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更新時(shí)間：2021-07-16 15:34:25瀏覽次數(shù)：415次
聯(lián)系我時(shí)，請告知來自 環(huán)保在線第4代AccuTOFGC系列產(chǎn)品性能進(jìn)一步改進(jìn),升級為AccuTOFGCx!將在更廣泛的領(lǐng)域?yàn)槟峁┓治鼋鉀Q方案
第4代AccuTOF GC 系列產(chǎn)品性能進(jìn)一步改進(jìn), 升級為AccuTOF GCx! 將在更廣泛的領(lǐng)域?yàn)槟峁┓治鼋鉀Q方案。
特點(diǎn)：
◇ 通過高精度的精確質(zhì)量測試推測元素的組成
AccuTOF GCx 能長時(shí)間且穩(wěn)定地進(jìn)行高靈敏度, 高分辨率, 高質(zhì)量準(zhǔn)確度的測試。此外, AccuTOF GCX 作為GC-HR TOFMS具有數(shù)量級的動(dòng)態(tài)范圍, 在同一譜圖內(nèi)不管是測試基峰還是小峰, 質(zhì)量準(zhǔn)確度都非常高, 因此能準(zhǔn)確地推測分子離子和碎片離子的元素組成, 基于寬動(dòng)態(tài)范圍還能容易地對不同濃度的混合樣品進(jìn)行GC/MS 測試。
◇ 高分辨率
高質(zhì)量準(zhǔn)確度(不同濃度下的同一個(gè)離子峰)
八氟萘
長時(shí)間的穩(wěn)定性
◇ 高靈敏度
連續(xù)測試八次100fg 八氟萘(OFN) 后, 由EIC中的積分面積標(biāo)準(zhǔn)偏差計(jì)算出儀器的檢出限(IDL)為16fg。
CV ：相對標(biāo)準(zhǔn)偏差 IDL ：儀器檢出限
◇ 寬質(zhì)量范圍
用Direct TOFMS也能測試低聚物
AccuTOF GCx 不僅具有寬質(zhì)量范圍, 還有多種直接進(jìn)樣系統(tǒng), 可以測試GC無法進(jìn)樣測試的大分子量樣品。
聚苯乙烯5200 的FD 質(zhì)譜圖
◇ 多種電離方法和進(jìn)樣技術(shù)
FI 法和FD 法 于確認(rèn)分子量的軟電離方式
FI / FD 法與EI 法或CI 法相比, 是分子離子內(nèi)部能量較小的電離方法, 由于這種軟電離方式不容易引起碎片化, 因此于確認(rèn)分子量。
FI(Field Ionization ：場電離)法
通過GC 或標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)樣口能將樣品導(dǎo)入離子源。CI 源需要依據(jù)待測對象化合物選擇試劑氣體種類, 但FI 源不需要。
軟電離技術(shù)也可以適用于難揮發(fā)性樣品，對容易碎片化的含氟化合物也檢測出了分子離子。
FD(Field Desorption ：場解吸)法
將樣品直接涂在發(fā)射體上。
很適合分析熱不穩(wěn)定化合物。
很適合于可溶于非極性溶劑的樣品
能測試可以分散在溶劑中的粉末樣品
能測試低～中極性的金屬絡(luò)合物。
能分析一般GC/MS 無法測試的樣品, 如聚合物, 高分子材料等。
對難揮發(fā)性的離子液體也能迅速獲得分子量信息。
◇ EI/FI/FD 復(fù)合離子源(選配件)
同一個(gè)離子源可以使用EI 法(硬電離方式)和 FI/FD 法(軟電離方式)?？珊唵窝杆俚厍袚QEI 和 FI/FD電離方式。
直接進(jìn)樣方式(選配件)
根據(jù)用途備有兩種直接進(jìn)樣桿，電離方法可以選擇EI 和CI。
DEP (Direct Exposure Probe) : 高沸點(diǎn)化合物 / 熱不穩(wěn)定化合物, 將溶在溶劑中的樣品涂在燈絲。
DIP (Direct Insertion Probe): 于高沸點(diǎn)化合物及不溶于溶劑的樣品,固體樣品可以直接放入專用的玻璃樣品管
EI 和FI 結(jié)合的定性分析
對EI的質(zhì)譜圖可用譜庫檢索，根據(jù)碎片離子的成份推斷可獲得結(jié)構(gòu)信息。另一方面根據(jù)FI檢測出的分子離子能推斷出分子量和元素成份。通過綜合來自EI和FI的信息，就可以進(jìn)行高度準(zhǔn)確的定性分析而不必單純地依賴譜庫檢索，這種組合技術(shù)對于雜質(zhì)等未知成分的定性分析非常有效。
規(guī)格：
質(zhì)量精度：≤1.5 MDA或4 ppm(RMS)
質(zhì)量范圍m/z：保證4 -6000，
捕獲率：高達(dá)50赫茲(0.02sec /譜)，
動(dòng)態(tài)范圍：至少4個(gè)數(shù)量級，
信噪比S/N ≥ 300， 1pg OFN (使用標(biāo)準(zhǔn)EI離子源)
分辨率：R≥10000(FWHM)，
連續(xù)測試八次100fg 八氟萘(OFN) ，檢出限(IDL)為16fg
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