產(chǎn)品簡(jiǎn)介：該系統(tǒng)特點(diǎn)：用調(diào)制光代替直流光，以減少雜散光、噪聲等對(duì)測(cè)量精度的影響；用錐腔型熱釋電探測(cè)器代替熱電堆探測(cè)器作為參考探測(cè)器，用鎖相測(cè)量?jī)x器代替直流測(cè)量?jī)x器并增加溫度控制，以便提高測(cè)量系統(tǒng)的靈敏度和光譜響應(yīng)度標(biāo)準(zhǔn)的平坦程度，進(jìn)而提高準(zhǔn)確度；以雙單色儀代替單色儀，大大減少雜散......

詳細(xì)介紹

◆QE/IPCE概念：

太陽(yáng)能電池量子效率QE (Quantum efficiency)和太陽(yáng)能電池IPCE(Incident Photon to Charge Carrier Efficiency)表示入射到太陽(yáng)能電池表面的光子數(shù)目與太陽(yáng)能電池產(chǎn)生的電荷載流子數(shù)目比率。太陽(yáng)能電池量子效率QE (Quantum efficiency)測(cè)試是對(duì)太陽(yáng)能電池外部效率的測(cè)量，而太陽(yáng)能電池IPCE(Incident Photon to Charge Carrier Efficiency)測(cè)試是對(duì)太陽(yáng)能電池內(nèi)部效率的測(cè)試，也就是說太陽(yáng)能電池表面反射的光子是不被考慮的。

太陽(yáng)能電池量子效率QE/ IPCE測(cè)試在太陽(yáng)能電池材料研究和太陽(yáng)能電池設(shè)計(jì)中非常關(guān)鍵特殊，因?yàn)椋瑢?duì)于太陽(yáng)能電池，在太陽(yáng)光譜組成分布較強(qiáng)的光譜位置上具有光譜響應(yīng)是極其重要的。該太陽(yáng)能電池量子效率QE/ IPCE測(cè)試設(shè)備是以光源和光譜學(xué)前沿技術(shù)為基礎(chǔ)的，所以，您可以信任它的專業(yè)測(cè)試準(zhǔn)確性。

準(zhǔn)確測(cè)試太陽(yáng)能電池量子效率QE/ IPCE的關(guān)鍵是確定照射到待測(cè)太陽(yáng)能電池上的單色光的強(qiáng)度大小和太陽(yáng)能電池產(chǎn)生的電流大小。我們所提供的都是最重要的太陽(yáng)能電池量子效率QE/ IPCE測(cè)試部件，在這些太陽(yáng)能電池量子效率QE/ IPCE測(cè)試部件的基礎(chǔ)上，用戶可以很快的完成太陽(yáng)能電池量子效率QE/ IPCE測(cè)試實(shí)驗(yàn)。

IPCE原理圖.png

◆系統(tǒng)簡(jiǎn)介:

本系統(tǒng)用于測(cè)量太陽(yáng)電池光譜響應(yīng)度（A/W），其測(cè)量原理是通過光源從單色儀出射的單色光，分別照射在被測(cè)硅探測(cè)器（如太陽(yáng)電池，染料敏化太陽(yáng)能電池、光電二極管等）與標(biāo)準(zhǔn)硅探測(cè)器上，然后測(cè)量它們的短路電流，再比較電流值的方法得出光譜響應(yīng)度。其中標(biāo)準(zhǔn)硅探測(cè)器光譜響應(yīng)度數(shù)據(jù)由中國(guó)傳遞而來。
該套裝置搭建以后，可實(shí)現(xiàn)對(duì)單色儀狹縫，波長(zhǎng)調(diào)整，對(duì)鎖相放大器(或弱電流計(jì))檔位調(diào)整，時(shí)間常數(shù)調(diào)整，數(shù)據(jù)測(cè)量，數(shù)據(jù)曲線實(shí)時(shí)顯示，數(shù)據(jù)結(jié)果處理，詳細(xì)功能可根據(jù)用戶特殊需要定制，3年內(nèi)軟件免費(fèi)升級(jí)維護(hù)）。
本套系統(tǒng)可用于測(cè)量(300~1100)nm波長(zhǎng)范圍，測(cè)量不確定度<5%（k＝2）（400-1100）nm

◆系統(tǒng)主要原理圖
1．交流測(cè)量法（可測(cè)量f微弱電流信號(hào)）
IPCE交流測(cè)試方法.png

2．直流測(cè)量法（可測(cè)量p微弱電流信號(hào)）
IPCE直流測(cè)試方法.png

◆系統(tǒng)的組成：

1、光源
（1）型號(hào)：CP-XQ500W（氙燈）電功率500W，多級(jí)聚焦，發(fā)射波長(zhǎng)范圍：200-2500nm，總光功率：10W（2）鹵素?zé)艏爸绷麟娫矗糜冢?00－1600）nm，波長(zhǎng)平坦，功率250W。
2、單色儀
型號(hào)：CPISW151，參數(shù)：焦距150mm、分辨率1nm、機(jī)械掃描范圍：0-1200nm、波長(zhǎng)精度：1nm（添加近紅外光柵(700-2000)nm）。
3、光學(xué)系統(tǒng)
由2塊凸透鏡和濾光片輪組成。
4、標(biāo)準(zhǔn)紫外探測(cè)器
硅探測(cè)器3只（日本濱松，其中1只用于， 2只用于備用）
型號(hào)：S1337。
5、自動(dòng)控制系統(tǒng)及軟件
包括單色儀控制，測(cè)量?jī)x表讀數(shù)，數(shù)據(jù)比對(duì)，處理等，VB程序。

6、測(cè)量?jī)x表(交流和直流測(cè)量法)
鎖相放大器型號(hào)：SR830
雙相數(shù)字式，
1mHz—102kHz頻率范圍
100dB動(dòng)態(tài)儲(chǔ)備（不加前置濾波器）
自動(dòng)增益，自動(dòng)相位，自動(dòng)動(dòng)態(tài)儲(chǔ)備
10s—30ks時(shí)間常數(shù)
6，12，18，24dB/倍頻程衰減速率
諧波檢測(cè)（2F，3F…nF）
GPIB，RS—232接口
調(diào)制器型號(hào)：SR540
具有電壓控制輸入，四位數(shù)字頻率顯示，十段頻率控制，和兩種可選工作模式的參考輸出。
4Hz—3.7kHz斬波頻率
單光束和雙光束調(diào)制
低相位抖動(dòng)
和頻和差頻參考信號(hào)輸出
測(cè)量?jī)x表(直流測(cè)量法)
Keithley 6517A
主要特點(diǎn)及優(yōu)點(diǎn):
電阻測(cè)量可達(dá)1016Ω
電流測(cè)量范圍1fA-20mA
最小電流量程輸入壓降<20μＶ
200TΩ輸入阻抗
<3fA偏置電流
高達(dá)125rdgs/s
噪聲0.75fA p-p
內(nèi)置±1kV電源
的高電阻測(cè)量電壓反接方法
可選的插件式掃描卡

7、光學(xué)平臺(tái)（可選）
國(guó)產(chǎn)，1.2M*1.8M，鋼制。由光學(xué)暗室、旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)臺(tái)、控制器和一維調(diào)節(jié)座（3只）組成。

基本功能特點(diǎn)與技術(shù)指標(biāo)：

☆CPQE100系列太陽(yáng)電池QE/IPCE測(cè)試儀，可以將IQE和EQE同點(diǎn)同時(shí)測(cè)量(內(nèi)外量子效率同時(shí)測(cè)量)，更加專業(yè)科學(xué)精確。

☆ 大功率寬光譜太陽(yáng)模擬光源保證足夠光譜范圍,從200nm-2500nm范圍輻射穩(wěn)定、能量高；光源的供電電源的電流穩(wěn)定度：0.05%@8.5A

☆ 自動(dòng)光柵分光系統(tǒng)，波長(zhǎng)分辨率0.1nm；波長(zhǎng)準(zhǔn)確度±0.2nm；波長(zhǎng)重復(fù)性±0.1nm，配自動(dòng)濾光片輪，消除多級(jí)光譜配合經(jīng)典C-T結(jié)構(gòu)，有效濾除雜散光。

☆ 測(cè)試光斑直徑1mm-38mm可調(diào);短路電流密度重復(fù)性：<1%，單色光光譜帶寬＜5nm，(可調(diào))，掃描步長(zhǎng)默認(rèn)5nm(0.05nm-10nm可選)。

☆ 數(shù)據(jù)采集：采用斬波鎖相提取信號(hào)，剔除噪聲，斬波頻率調(diào)整范圍：5-1000Hz，鎖相放大器靈敏度2nV

☆ 探針樣品臺(tái),測(cè)試樣品尺寸 ≤156x156mm（可定制更大尺寸）

軟件界面人性化，即學(xué)即會(huì)的簡(jiǎn)單操作

系統(tǒng)軟件中，將所有儀器控制的部分都匯總到一個(gè)界面，將所有儀器參數(shù)設(shè)置的部分都匯總到一個(gè)界面，將操作控制簡(jiǎn)單化，實(shí)現(xiàn)一鍵運(yùn)行。并且兼容通量法和均勻照度法兩種測(cè)量方式，并根據(jù)不同測(cè)量方式采用不同的公式進(jìn)行數(shù)據(jù)計(jì)算與處理。

儀器參數(shù)設(shè)置可以統(tǒng)一保存為一個(gè)文件并導(dǎo)出，從而實(shí)現(xiàn)快速還原功能，隨時(shí)調(diào)用以前保留的參數(shù)設(shè)置。不同機(jī)臺(tái)之間的參數(shù)設(shè)置也可以互相調(diào)用。

圖、表文件自動(dòng)生成與顯示,系統(tǒng)軟件保留所有原始數(shù)據(jù)，或?qū)С鰹閠xt、xls等格式的文檔，便于主流數(shù)據(jù)處理軟件調(diào)用，多組數(shù)據(jù)對(duì)比，進(jìn)行后續(xù)分析。

粗大誤差的自動(dòng)去除，系統(tǒng)誤差、線性誤差、周期誤差、T誤差的自動(dòng)校驗(yàn)。

高級(jí)選配功能：

☆ 半導(dǎo)體溫控臺(tái)：控制樣品溫度范圍5-40℃

☆ DC/AC模式可選,斬波脈沖光照模式與穩(wěn)態(tài)連續(xù)光照模式兼容，一機(jī)多用

☆ 樣品真空吸附功能

☆ 可選光路監(jiān)視,監(jiān)測(cè)光強(qiáng)變化，有效扣除光源不穩(wěn)定帶來的測(cè)試誤差

☆ 偏置光源

☆ 偏置電源

☆ 自動(dòng)快門

☆ 級(jí)聯(lián)雙單色儀