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納米傅里葉紅外光譜儀
在不使用任何模型矯正的條件下,nano-FTIR獲得的近場吸收光譜所體現(xiàn)的分子指紋特征與使用傳統(tǒng)FTIR光譜儀獲得的分子指紋特征吻合度*(如下圖),這在基礎(chǔ)研究和實(shí)際應(yīng)用方面都具有重要意義,因?yàn)檠芯空呖梢詫ano-FTIR光譜與已經(jīng)廣泛建立的傳統(tǒng)FTIR光譜數(shù)據(jù)庫中的數(shù)據(jù)進(jìn)行對比,從而實(shí)現(xiàn)快速準(zhǔn)確的進(jìn)行納米尺度下的材料化學(xué)分析。對化學(xué)成分的高敏感度與***的空間分辨率
應(yīng)用案例:
對納米尺度污染物的化學(xué)鑒定
AFM表面形貌圖像 (左), 在Si片基體(暗色區(qū)域B)與PMMA薄膜(A)之間可以觀察到一個(gè)小的污染物。機(jī)械相位圖像中(中),對比度變化證明該污染物的是有別于基體和薄膜的其他物質(zhì)。將點(diǎn)A和B的nano-FTIR 吸收光譜(右),與標(biāo)準(zhǔn)紅外光譜數(shù)據(jù)庫對比, 獲得各部分物質(zhì)的化學(xué)成分信息. 每條譜線的采集時(shí)間為7min
nano-FTIR 可以應(yīng)用到對納米尺度樣品污染物的化學(xué)鑒定上。下圖顯示的Si表面覆蓋PMMA薄膜的橫截面AFM成像圖,其中AFM相位圖顯示在Si片和PMMA薄膜的界面存在一個(gè)100nm尺寸的污染物,但是其化學(xué)成分無法從該圖像中判斷。而使用nano-FTIR在污染物中心獲得的紅外光譜清晰的揭示出了污染物的化學(xué)成分。通過對nano-FTIR獲得的吸收譜線與標(biāo)準(zhǔn)FTIR數(shù)據(jù)庫中譜線進(jìn)行比對,可以確定污染物為PDMS顆粒。
技術(shù)參數(shù)配置:
■ 反射式 AFM-針尖照明 ■ 標(biāo)準(zhǔn)光譜分辨率: 6.4/cm-1 ■ 無背景探測技術(shù) ■ 基于優(yōu)化的傅里葉變換光譜儀 ■ 采集速率: Up to 3 spectra /s | ■ 高性能近場光譜顯微優(yōu)化的探測模塊 |
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