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TESCAN AMBER FIB-SEM雙束電鏡

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更新時(shí)間：2024-01-03 18:01:44瀏覽次數(shù)：227次

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TESCAN AMBER FIB-SEM雙束電鏡是一款雙束（FIB-SEM）聚焦掃描電鏡系統(tǒng)系統(tǒng)，可以滿足現(xiàn)今工業(yè)研發(fā)和學(xué)術(shù)界研究的所有需求，在提供的圖像質(zhì)量的同時(shí)，可完成復(fù)雜的納米操作并保證精度和操作靈活性。

詳細(xì)介紹

TESCAN AMBER 是一款雙束（FIB-SEM）聚焦掃描電鏡系統(tǒng)系統(tǒng)，可以滿足現(xiàn)今工業(yè)研發(fā)和學(xué)術(shù)界研究的所有需求，在提供的圖像質(zhì)量的同時(shí)，可完成復(fù)雜的納米操作并保證精度和操作靈活性。

TESCAN AMBER 配置了新的 BrightBeam™ 鏡筒，真正的無(wú)磁場(chǎng)超高分辨（UHR）可以實(shí)現(xiàn)各種分析，包括磁性樣品的分析，以及在 FIB 操作時(shí) SEM 的實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)。另一方面，創(chuàng)新的 Orage™ FIB 鏡筒配有*的離子光學(xué)系統(tǒng)和氣體注入系統(tǒng)，使得 TESCAN AMBER 成為了世界的樣品制備和納米加工的儀器。

模塊化、基于工作流的軟件確保了在所有應(yīng)用中都能很大程度進(jìn)行操控，不需要在復(fù)雜的技術(shù)之間進(jìn)行取舍，用戶界面友好。因而 TESCAN AMBER 是FIB-SEM應(yīng)用的理想選擇，也是所有追求日?？茖W(xué)和技術(shù)突破的人士的分析平臺(tái)。

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