MOSFET-HAST測(cè)試高加速壽命老化測(cè)試系統(tǒng)，評(píng)估系統(tǒng),絕緣電阻劣化評(píng)估系統(tǒng)是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓，經(jīng)過長時(shí)間的測(cè)試（1～1000小時(shí)）并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生，并記錄電阻值變化狀況，故又叫做CAF試驗(yàn)，絕緣阻力電阻試驗(yàn)，我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗(yàn)，

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MOSFET-HAST測(cè)試高加速壽命老化測(cè)試系統(tǒng)

評(píng)估系統(tǒng),絕緣電阻劣化評(píng)估系統(tǒng)是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓，經(jīng)過長時(shí)間的測(cè)試（1～1000小時(shí)）并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生，并記錄電阻值變化狀況，故又叫做CAF試驗(yàn)，絕緣阻力電阻試驗(yàn)，我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗(yàn)，可進(jìn)行BHAST試驗(yàn)。CAF（Conductive Anodic Filament，導(dǎo)電陽極絲）與HAST（Highly Accelerated Stress Test，高加速應(yīng)力測(cè)試）的結(jié)合。

MOSFET-HAST測(cè)試高加速壽命老化測(cè)試系統(tǒng)

特點(diǎn)

·高機(jī)能：采用驅(qū)動(dòng)計(jì)測(cè)，測(cè)試時(shí)焊接工序大幅減少

·軟件設(shè)計(jì)簡(jiǎn)單明了，直觀易操作

·遠(yuǎn)程監(jiān)控功能，可監(jiān)控試驗(yàn)過程。

·便利性高：構(gòu)造裝著脫落式、易進(jìn)行保養(yǎng)交換?？赏瑫r(shí)試驗(yàn)停止等聯(lián)動(dòng)裝置功能，系統(tǒng)構(gòu)成靈活。

·測(cè)試自檢功能：點(diǎn)檢、校正方便。

·設(shè)計(jì)精巧，不受場(chǎng)所限制，易移動(dòng)。

·可靠性高：配有CF卡，以防設(shè)備故障數(shù)據(jù)丟失。以UPS作為系統(tǒng)的支撐，確保試驗(yàn)的安全繼續(xù)進(jìn)行。

應(yīng)用：PCB、焊料、助焊劑、涂層材料等，GBA、DSP等，IC封裝、電容器、連接器等電子器件及材料絕緣材料吸濕特性測(cè)試評(píng)估。

技術(shù)規(guī)格

類型 500V *1 1000V