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SE-RD-STD系列全光譜橢偏儀

參考價: ￥ 0.99

訂貨量: ≥1 臺

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號

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廠商性質(zhì)經(jīng)銷商

所在地無錫市

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更新時間：2024-07-24 16:40:04瀏覽次數(shù)：274次

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無錫浩輝者新材料科技有限公司

經(jīng)營模式：經(jīng)銷商

商鋪產(chǎn)品：49條

所在地區(qū)：江蘇無錫市

聯(lián)系人：小周（助理）

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產(chǎn)品簡介

產(chǎn)地	國產(chǎn)

● 桌上型膜厚量測設(shè)備
● 安裝移動迅速便捷
● 適用于所有非金屬膜質(zhì)
● 多樣化的應(yīng)用選擇
● 工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)端口

詳細(xì)介紹

● 桌上型膜厚量測設(shè)備

● 安裝移動迅速便捷

● 適用于所有非金屬膜質(zhì)

● 多樣化的應(yīng)用選擇

● 工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)端口

全光譜橢偏儀——

規(guī)格	技術(shù)指標(biāo)
襯底類型	透明或半透明襯底
光源	氙燈
光源壽命	>8760H
光譜范圍	300-1000nm
入射角	70度（40度-90度每5度可調(diào)）
光斑直徑	100x120μm(Min80x100um)
測量時間（不對焦）	<2S(單層模型),<約6s（多層模型）
膜厚測量范圍（單層膜）	1nm-15μm
對焦	自動訊號對焦
膜厚測量精度	<0.5nm(基于標(biāo)片)
折射率測量精度	<0.005(基于標(biāo)片)
厚度重復(fù)性精度：	<0.5A（1 sigma 標(biāo)準(zhǔn)差,10times）（基于標(biāo)準(zhǔn)片）
折射率重復(fù)性精度：	<0.0005（1 sigma標(biāo)準(zhǔn)差,10times）（基于標(biāo)準(zhǔn)片）
可測試膜層數(shù)量	≥2層
標(biāo)片數(shù)量	2片