一、手持式土壤重金屬檢測儀可適用于多種檢測需求，如應(yīng)急事故調(diào)查、土壤普查、污染場地調(diào)查、環(huán)境污染監(jiān)察等土壤、沉積物、固廢類型樣品中的重金屬元素檢測分析。使用SMA-XRF 手持式土壤重金屬檢測儀即可現(xiàn)場實(shí)現(xiàn)元素的實(shí)時(shí)檢測，該解決方案受到了中國眾多環(huán)境*和世界上其它主要監(jiān)管機(jī)構(gòu)的青睞。只需輕輕扣動(dòng)扳機(jī)，即可在現(xiàn)場對元素進(jìn)行快速檢測。由于重量輕而且能在大部分環(huán)境和天氣條件下使用，可以很容易地檢測 RCRA 金屬、主要的污染物以及中國環(huán)境部要求檢測的物品，并能快速得到的分析數(shù)據(jù)，協(xié)助您及時(shí)制定策略，其檢測成本遠(yuǎn)遠(yuǎn)低于實(shí)驗(yàn)室分析。
二、功能特點(diǎn)
?儀器體積更小、重量更輕，方便攜帶。
?高速處理芯片，*的算法和高效的軟件相配合，使得儀器分析速度更快。
?選用進(jìn)口高性能X 光射線發(fā)射管和超高分辨率探測器，結(jié)合數(shù)字多道處理技術(shù)，使得其具有超高分析精度。
?在測量過程中， SMA-XRF 左右兩側(cè)輻射指示燈自動(dòng)呼吸閃爍， 內(nèi)置DoubleBeam™ 技術(shù)自動(dòng)感知儀器前方有無樣品，提高射線的安全性和防護(hù)等級。
?工業(yè)電阻觸摸屏，相比電容屏具有更優(yōu)異的背光性能，在野外強(qiáng)光下依然清晰可見，同時(shí)免除野外特殊環(huán)境脫手套操作的危險(xiǎn)性。
?機(jī)身采用防滑耐磨流線型設(shè)計(jì)，十分輕盈，便于攜帶和運(yùn)輸，同時(shí)集成了前沿的科研創(chuàng)新，包括：全新高速數(shù)字多道技術(shù)，全新牌號庫鑒定系統(tǒng)， Super-FP 算法，使得 SMA-XRF 手持式土壤檢測儀不僅測量速度更快，測量正確性更高，測量一致性更強(qiáng)。
?具有MSBUS 總線的智能電池、實(shí)時(shí)監(jiān)控電池、備用電池可直接查看電池剩余容量。
?儀器不工作時(shí)待機(jī)，拿起時(shí)恢復(fù)，降低儀器功耗，延長儀器工作時(shí)間;此外該設(shè)備的重力感應(yīng)能力使得儀器不小心跌落時(shí)，自動(dòng)關(guān)機(jī)，提供儀器使用的安全性，當(dāng)溫度濕度超出應(yīng)用范圍時(shí)，會(huì)自動(dòng)警報(bào)。
?SMA-XRF 手持式土壤檢測儀可根據(jù)海拔高度自動(dòng)調(diào)節(jié)氣壓因子，自適應(yīng)高原反應(yīng)而做出壓力模型參數(shù)調(diào)整。輕元素激發(fā)效果相比提高 40%，稀土類元素激發(fā)效果相比提高 30%。
?支持儀器電池?zé)岵灏?，可在工作狀態(tài)下更換電池，無需關(guān)機(jī)。
?用戶可自定義創(chuàng)建專業(yè)報(bào)告：包括公司標(biāo)志、公司地址、檢測結(jié)果、光譜譜圖及其他樣品信息(如產(chǎn)品描述、產(chǎn)地、批號等)。
?可將設(shè)備聯(lián)入互聯(lián)網(wǎng)，可遠(yuǎn)程對儀器進(jìn)行設(shè)置及檢修。
?可結(jié)合內(nèi)置的 GPS 經(jīng)緯度數(shù)據(jù)及海拔高度數(shù)據(jù)，通過導(dǎo)入第三方 GIS 分析軟件，構(gòu)建元素含量地理三維分布圖，快速評估出環(huán)境災(zāi)害區(qū)域。
?SMA-XRF 手持式土壤檢測儀內(nèi)置的全新凈強(qiáng)度擬合算法，優(yōu)化了光譜解析過程，使得其擁有與實(shí)驗(yàn)室大型設(shè)備相媲美的較低檢出限。
?SMA-XRF 內(nèi)置的Ultrashort™光路設(shè)計(jì)，在無需充氮情況下，顯著提高輕元素Mg、Al、Si、S、P 激發(fā)效果。
?內(nèi)置的環(huán)境感應(yīng)系統(tǒng)。使得 SMA-XRF 能夠?qū)崟r(shí)感知周圍環(huán)境變化， 并自動(dòng)做出參數(shù)調(diào)整，以適用高低溫、粉塵、陰暗潮濕等特殊條件下正確的元素分析。
三、應(yīng)用領(lǐng)域
?現(xiàn)場監(jiān)測RCRA 所涉及的金屬和優(yōu)先控制的污染金屬。
?可對：沙粒、污泥、固體廢棄物、泥土、泥漿;粉塵、灰塵、過濾物、薄膜層等分析。