光譜橢偏儀（PH-SE型）針對太陽能電池應用，可測量多晶硅/單晶硅絨面表面單層（二層或多層）減反射膜、和玻璃/有機基底上的薄膜太陽能電池。多層膜和非均勻薄膜的分析也非常出色。針對太陽能電池應用的光譜橢偏儀基于*的橢偏光路設計，高靈敏度探測單元和分析軟件，可測量各種太陽能電池的薄膜厚度和光學常數(shù)，光學帶寬等。
- 產(chǎn)品特點
■連續(xù)波長的光源為用戶提供了更大的應用空間
■更簡便快捷的樣品準直方法
■軟件具備豐富的材料數(shù)據(jù)庫
■允許用戶自定義色散模型，更方便用戶研究新材料的光學性質(zhì)
■全波長多角度同時數(shù)據(jù)擬合，EMA模型用戶多成分化合物和表面粗糙度分析
■具有實驗數(shù)據(jù)和模擬數(shù)據(jù)三維繪圖功能
■光譜范圍寬達250 - 1100nm （可擴展至250-1700nm）
■功能強大的光譜橢偏測量與分析軟件
- 技術(shù)指標
■光源：氙燈
■光斑直徑：1-3mm
■入射角范圍：20°到90°,5°/步
■波長范圍：350-850nm， 250-1100nm， 250-1700nm：0.002°~ 0.02°
■波長精度：1nm
■ 測量時間: < 8s （取決于測量模式和粗糙度）
■ 樣品尺寸: 125x125mm 156x156mm,200x200mm電池片, 其他尺寸
■ 測量精度：0.02nm
■ 折射率：0.0002, 100nmSiO2 on Si
■ 厚度測量范圍：0.01nm ~ 50um
■ 消光比：10-6
- 產(chǎn)品特點
■連續(xù)波長的光源為用戶提供了更大的應用空間
■更簡便快捷的樣品準直方法
■軟件具備豐富的材料數(shù)據(jù)庫
■允許用戶自定義色散模型，更方便用戶研究新材料的光學性質(zhì)
■全波長多角度同時數(shù)據(jù)擬合，EMA模型用戶多成分化合物和表面粗糙度分析
■具有實驗數(shù)據(jù)和模擬數(shù)據(jù)三維繪圖功能
■光譜范圍寬達250 - 1100nm （可擴展至250-1700nm）
■功能強大的光譜橢偏測量與分析軟件
- 技術(shù)指標
■光源：氙燈
■光斑直徑：1-3mm
■入射角范圍：20°到90°,5°/步
■波長范圍：350-850nm， 250-1100nm， 250-1700nm：0.002°~ 0.02°
■波長精度：1nm
■ 測量時間: < 8s （取決于測量模式和粗糙度）
■ 樣品尺寸: 125x125mm 156x156mm,200x200mm電池片, 其他尺寸
■ 測量精度：0.02nm
■ 折射率：0.0002, 100nmSiO2 on Si
■ 厚度測量范圍：0.01nm ~ 50um
■ 消光比：10-6
- 可選配
■ CCD線陣列探測元件：200-850nm，350-1000nm
■樣品顯微鏡
■高穩(wěn)定性消色差補償器
■透射測量架
■ XY移動樣品臺
- 典型客戶
美國，歐洲，亞洲及國內(nèi)太陽能及半導體客戶。
詳情咨詢：
北京合能陽光新能源技術(shù)有限公司
北京市通州區(qū)工業(yè)開發(fā)區(qū)光華路16號
： -104 -608
：肖
：xiaozongyong@henergysolar.com
公司：http://www.HenergySolar.com
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