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X射線熒光鍍層厚度測量儀

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產(chǎn)品型號FT160

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更新時間：2023-03-17 13:11:44瀏覽次數(shù)：205次

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產(chǎn)品簡介

FT160為微型電子器件的微焦斑分析，這款不會過時的儀器，專為微焦斑和超薄鍍層分析而設(shè)計，可應(yīng)對日益小型化的電子行業(yè)及PCB板鍍層的挑戰(zhàn)

詳細介紹

FT160為微型電子器件的微焦斑分析，這款不會過時的儀器，專為微焦斑和超薄鍍層分析而設(shè)計，可應(yīng)對日益小型化的電子行業(yè)及PCB板鍍層的挑戰(zhàn)。

■ FT160可提供：
1. 毛細管聚焦光學組件和高靈敏度SDD檢測器。
2. 小于50μm的樣品測量
3. 的性能，以滿足半導體芯片技術(shù)的挑戰(zhàn)。
4. 快速得到結(jié)果，使用簡單，以提高生產(chǎn)力。
5. 加快樣品呈現(xiàn)速度的寬大樣品艙門和樣品臺。
6. 進行測試監(jiān)控的寬大樣品觀察窗。

項目	描述
X射線照射方向	上方照射式
測量元素	Al (13) ~ U(92)
靶材	鎢(W) target、鉬(Mo) target
測定環(huán)境	大氣
Ｘ射線發(fā)生部	45kV, 鉬Mo 靶材
設(shè)計	毛細管聚焦Poly-capillary
管電流	1000μA　可變
X射線檢測部	Silicon Drift Detector (SDD)
測定面積	φ0.030mm(FWHM 0.017mm)
樣品面積	FT160長400mm×寬300mm×高100mm FT160L 600mm x 600mm專用款
電動XY樣品臺驅(qū)動移動范圍	400×300mm
CCD Camera	高質(zhì)量相機可變焦16倍
對焦模式	雷射自動對焦
測量模式	Thin Film FP (5層, 10元素)/檢量線法

? PCB、半導體和電子行業(yè)專用款
(1) PCB / PWB 表面處理：控制表面處理工藝的能力決定線路板的品級、可靠性和壽命。根據(jù)IPC 4556和IPC 4552A測量非電鍍鎳（EN，NiP）電鍍厚度和成分結(jié)構(gòu)。FT150大面積載臺，適合各種軟板硬板鍍層分析。

(2) 電子組件的電鍍：零件必須在規(guī)格范圍內(nèi)被電鍍，以達到預(yù)期的功能、機械及環(huán)境性能。日立系列膜厚設(shè)備，可以測量小的試片或連續(xù)帶狀樣品，從而達到引線框架、連接器插針、線材和端子的上、中和預(yù)鍍層厚度的控制。

(3) IC載板：半導體器件越來越小巧而復(fù)雜，需要分析設(shè)備測量其在小區(qū)域上的薄膜。日立分析儀器的分析儀設(shè)計為可為客戶所需應(yīng)用提供高準確性分析，及重復(fù)性好的數(shù)據(jù)。

(4) 服務(wù)電子制造過程(EMS、ECS)：結(jié)合采購和本地制造的組件及涉及產(chǎn)品的多個測試點，實現(xiàn)從進廠檢查到生產(chǎn)線流程控制，再到最終質(zhì)量控制。

? 金屬表面處理
(1) 耐腐蝕性：檢驗所用涂層的厚度和化學性質(zhì)，以確保產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下的功能性和使用壽命。輕松處理小型扣件或大型組件。

(2) 耐磨性：通過確保磨蝕環(huán)境中關(guān)鍵部件的涂層厚度和均勻度，預(yù)防產(chǎn)品故障。復(fù)雜的形狀、薄或厚的涂層和成品都可被測量。

(3) 裝飾性表面：當目標是實現(xiàn)光亮表面時，整個生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制至關(guān)重要。通過日立分析儀器的多種測試設(shè)備，您可以可靠地檢測基材，中間層和最上層厚度。

(4) 耐高溫：在條件下進行的零件的表面處理必須被控制在嚴格公差范圍內(nèi)。確保符合涂層規(guī)格、避免產(chǎn)品召回和潛在的災(zāi)難性故障。

關(guān)鍵詞：芯片

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