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鎢燈絲掃描電子顯微鏡EVO MA 25/LS 25

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更新時間：2023-09-16 09:43:37瀏覽次數(shù)：197次

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北京歐波同光學技術有限公司

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產(chǎn)品簡介

鎢燈絲掃描電子顯微鏡EVOMA25/LS25詳細描述：品牌：卡爾·蔡司型號：EVOMA25/LS25制造商：德國卡爾蔡司公司經(jīng)銷商：歐波同有限公司免費：【品牌故事】世界可見光及電子光學的企業(yè)——德國蔡司公司始創(chuàng)于1846年

詳細介紹

鎢燈絲掃描電子顯微鏡EVO MA 25/LS 25

詳細描述：

品牌：卡爾·蔡司	型號：EVO MA 25/LS 25
制造商：德國卡爾蔡司公司	經(jīng)銷商：歐波同有限公司
免費：

【品牌故事】

世界可見光及電子光學的企業(yè)——德國蔡司公司始創(chuàng)于1846年。其電子光學前身為LEO（里奧），更早叫Cambridge（劍橋）和Zeiss。積掃描電鏡領域40多年及透射電鏡領域60年的經(jīng)驗，電子光學成像技術在世界上創(chuàng)造了數(shù)個里程碑：

-與AEG公司合作實現(xiàn)了透射電子顯微鏡的商業(yè)化（1949）
-陸續(xù)推出的EM9型電子顯微鏡是世界上具有自動曝光控制的電磁式
-透射電子顯微鏡TEM（1956）
-推出EM902型配用Castaing-Henry過濾器商用電子顯微鏡，用戶利用
-該種新產(chǎn)品能夠得到高分辨率元素分布圖片（1984）
-配用靜電電磁物鏡（Gemini技術）的場發(fā)射掃描電子顯微鏡DSM982
-Gemini投放市場（1993）
-推出具有Koehler照明的200KV場發(fā)射透射電鏡（2003）
-推出具有鏡筒內(nèi)校正Omega能量濾波器的場發(fā)射透射電鏡（2003）

CARL ZEISS其前瞻性和完善的設計，融合歐洲至上的制造工藝，造就了該品牌在光電子領域的地位。自成立至今，一直延續(xù)不斷創(chuàng)新的傳統(tǒng)，公司擁有廣泛的專有技術，隨著離子束技術和基于電子束的分析技術的加入，可為您提供鎢燈絲掃描電鏡、場發(fā)射掃描電鏡、雙束顯微鏡（FIB and SEM）、透射電子顯微鏡等全系列解決方案。其產(chǎn)品的高性能、高質(zhì)量、高可靠性和穩(wěn)定性已得到世界范圍內(nèi)廣大用戶的信賴與認可。
作為一家電子光學產(chǎn)品提供商，我們將為您提供完善的納米技術解決方案，并且以專業(yè)化的手段讓您的投資物有所值。無論您是企業(yè)還是科研機構，卡爾蔡司在高質(zhì)量電子光學系統(tǒng)方面優(yōu)良的傳統(tǒng)都會為您的業(yè)績做出積極的貢獻。

【總體描述】
EVO系列電鏡是高性能、功能強大的高分辨應用型掃描電子顯微鏡。EVO MA 25用于材料領域,LS 25用于生命科學領域。該系列電鏡采用多接口的大樣品室和藝術級的物鏡設計，提供高低真空成像功能，可對各種材料表面作分析，并且具有業(yè)界的X射線分析技術。革命性的Beamsleeve的設計，確保在低電壓條件下提供高分辨率的銳利圖像，同時還可以進行準確的能譜分析。樣品臺為五軸全自動控制。標準的高效率無油渦輪分子泵能夠滿足快速的樣品更換和無污染(免維護)成像分析。

【技術參數(shù)】
    分辨率：3.0nm@ 30KV(SE and W)
            4.0nm@ 30KV(VP with BSD)
    加速電壓：0.2—30KV
     放大倍數(shù)：5—1000000x
     探針電流：0.5PA-5μA
     X-射線分析工作距離：8.5mm    35度接收角
     低真空壓力范圍：10—400Pa (LS25：10-3000Pa)
     工作室：420mm(φ)×330mm(h)
     5軸試樣載物臺：X=130mm  Y=130mm  Z=50mm  T=-10°- 90°R=360°

較大試樣高度：210mm，試樣大直徑：300mm
系統(tǒng)控制：基于Windows 7 的SmartSEM操作系統(tǒng)
存儲分辨率：32,000 × 24,000 pixels

【主要特點】
    大的樣品高度可達210mm
     大樣品重量5Kg
     大的樣品直徑300mm
     能在可變壓力下操作
     高亮度LaB6資源選擇
     光線套選擇

【產(chǎn)品應用】
掃描電鏡(SEM)廣泛地應用于金屬材料(鋼鐵、冶金、有色、機械加工)和非金屬材料(化學、化工、石油、地質(zhì)礦物學、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維)等檢驗和研究。在材料科學研究、金屬材料、陶瓷材料、半導體材料、化學材料等領域進行材料的微觀形貌、組織、成分分析，各種材料的形貌組織觀察，材料斷口分析和失效分析，材料實時微區(qū)成分分析，元素定量、定性成分分析，快速的多元素面掃描和線掃描分布測量，晶體、晶粒的相鑒定，晶粒尺寸、形狀分析，晶體、晶粒取向測量。

關鍵詞：掃描電子顯微鏡透射電子顯微鏡電子顯微鏡顯微鏡化學材料