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maxLIGHT pro集成光束分析光譜儀

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產(chǎn)品型號(hào)maxLIGHT pro

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更新時(shí)間：2024-09-25 08:28:56瀏覽次數(shù)：144次

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產(chǎn)品分類 品牌分類

  光譜儀

飛秒瞬態(tài)光譜系統(tǒng)

X射線光譜儀

極紫外光譜儀

顯微分光光度計(jì)

拉曼光譜儀

中紅外光譜儀

光纖光譜儀/小型光譜儀

2D光譜儀

真空紫外光譜儀

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

產(chǎn)品概述；maxLIGHTpro是一款集成了直接光束分析儀的高性能光譜儀功能

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品概述；

maxLIGHT pro是一款集成了直接光束分析儀的高性能光譜儀功能。
光譜儀和光束分析儀模式之間的自動(dòng)快速切換可以對(duì)光束特性進(jìn)行驗(yàn)證。該光譜儀具有從1nm 到200nm的像差校正。
通過(guò)三個(gè)覆蓋范圍1-20nm，5-80nm 和40-200nm 的光柵可以進(jìn)行寬帶光譜測(cè)量。
該光譜儀可以在沒(méi)有入射狹縫的情況下使用，以在距離光源一定范圍內(nèi)地收集光。
模塊化設(shè)計(jì)能夠匹配不同的實(shí)驗(yàn)幾何形狀和配置。
具有集成的狹縫支架和濾光片插入單元，以及電動(dòng)光柵定位。

主要特征：

光源直接成像

光源直接成像到檢測(cè)器上，不需要狹窄的入射孔；

比標(biāo)準(zhǔn)版本高大約 20 倍以上的光收集和信噪比；

堅(jiān)固耐用的設(shè)計(jì)：

設(shè)計(jì)緊湊，占地面積?。?/font>

抗環(huán)境干擾，無(wú)狹縫設(shè)計(jì)；

沒(méi)有活動(dòng)部件；

光柵位置監(jiān)控，用于保持光柵對(duì)準(zhǔn)。

特殊解決方案：

非磁性儀器

特殊的幾何形狀外殼

電磁脈沖保護(hù)

超真空配置

根據(jù)需求定制

每臺(tái)光譜儀都是經(jīng)過(guò)定制的，以匹配所需的應(yīng)用，例如：

提供與實(shí)驗(yàn)箱接口

可調(diào)整光源距離

根據(jù)用戶定義提供濾光片安裝座

Characteristics	maxLIGHT	maxLIGHT plus	maxLIGHT pro
平場(chǎng)掠入射光譜儀	?	?	?
集成光束分析儀			?
的無(wú)縫設(shè)計(jì)，高效率	?	?	?
探測(cè)器可靈活選擇： XUV-CCD或MCP / CCD	?	?	?
工作壓力<10^-6mbar	?	?	?
可根據(jù)用戶需求定制	?	?	?
閃耀光柵進(jìn)一步提高效率		?	?
電動(dòng)閉環(huán)三維光柵定位		?	?
電動(dòng)二維光柵定位	?
濾光片插入裝置		?	?
真空閥門		?	?

【產(chǎn)品規(guī)格參數(shù)】

	SRX光柵		XUV光柵			VUV光柵
波長(zhǎng)，nm,	2-20		7-80			40-200
操作模式	無(wú)狹縫		無(wú)狹縫			無(wú)狹縫
光源距離，m	可調(diào)		可調(diào)			可調(diào)
波長(zhǎng)，nm	2-10	3-20	7-40	10-60	25-80	40-120	100-200
平面場(chǎng)尺寸，nm	35	45	60	55	50	75	110
色散，nm/mm	0.2-0.35	0.3-0.4	0.5-0.65	0.7-1.1	0.9-1.3	0.9-1.3	1.2-1.6
分辨率，nm	＜0.015	＜0.017	＜0.028	＜0.045	＜0.05	＜0.05	＜0.07

其他配置（光譜范圍，狹縫操作，高分辨率等）可根據(jù)要求提供。

樣品測(cè)量結(jié)果證明了極紫外波段光譜儀的分辨能力。

所顯示的高次諧波光譜是由單個(gè)飛秒激光脈沖與固體目標(biāo)相互作用和隨后的光譜濾波產(chǎn)生的。極紫外光譜儀清楚地解決了生成過(guò)程固有的子結(jié)構(gòu)。圖片上半部分：由 X 射線 CCD 相機(jī)記錄的原始圖像。圖片下半部分：通過(guò)列合并獲得的諧波頻譜。(Plasma Phys. Control. Fusion 53 (2011)124021)

樣品測(cè)量結(jié)果證明了信號(hào)強(qiáng)度的提高。

在相同的信號(hào)強(qiáng)度下，與標(biāo)準(zhǔn)光譜儀（虛線）相比，H + P 光譜儀（實(shí)線）的分辨率明顯更高。與標(biāo)準(zhǔn)方法相同的分辨率需要窄縫設(shè)置，因此信號(hào)強(qiáng)度會(huì)顯著下降。H + P 的無(wú)狹縫設(shè)計(jì)可以同時(shí)提高分辨率和信號(hào)強(qiáng)度。(data courtesy of Prof. C. Hauri, Paul Scherrer Inst.