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CAMECA 工業(yè)級(jí)三位原子探針EIKOS

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原子探針可為研究和工業(yè)領(lǐng)域提供常規(guī)的高性能三維納米分析

詳細(xì)介紹

原子探針可為研究和工業(yè)領(lǐng)域提供常規(guī)的高性能三維納米分析。
基于原子探針斷層分析儀器和應(yīng)用領(lǐng)域30年的成功經(jīng)驗(yàn)，CAMECA開發(fā)了EIKOS™原子探針顯微鏡，應(yīng)用于合金的快速研制和納米級(jí)材料研究。

EIKOS原子探針提供了：

具有納米級(jí)微觀結(jié)構(gòu)表征的三維層析成像

高效率的高空間分辨率單原子探測(cè)

對(duì)所有元素及其同位素的靈敏度一致

定量組分測(cè)量（亞納米至近微米級(jí)）

可提供電壓或電壓和激光配置

標(biāo)準(zhǔn)樣品制備方法

EIKOS可提供2種配置：

EIKOS
基礎(chǔ)EIKOS系統(tǒng)采用反射器設(shè)計(jì)，可提供出色的質(zhì)量分辨能力和信噪比。預(yù)先對(duì)準(zhǔn)的集成反電極確保易用性和高可靠性。電壓脈沖系統(tǒng)在各種冶金應(yīng)用中提供了非常高的數(shù)據(jù)質(zhì)量。

EIKOS-UV
配置的EIKOS-UV系統(tǒng)結(jié)合了基礎(chǔ)EIKOS（電壓脈沖，基于反射功能，預(yù)對(duì)準(zhǔn)反電極）的所有突出特性，并增加了一個(gè)集成的激光脈沖模塊和計(jì)算機(jī)控制的焦斑設(shè)計(jì)，以適用于更大的應(yīng)用范圍。

基礎(chǔ)EIKOS系統(tǒng)可現(xiàn)場(chǎng)升級(jí)至EIKOS-UV。

關(guān)鍵詞：顯微鏡