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布魯克 Bruker光學(xué)輪廓儀 ContourX-200

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更新時間：2023-01-15 08:35:01瀏覽次數(shù)：650次

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產(chǎn)品簡介

ContourX-200 光學(xué)輪廓儀提供了高級表征能力、可選定制配件、和使用方便三者的融合，是同類產(chǎn)品中、最準(zhǔn)確、可重復(fù)性的非接觸式三維表面計量系統(tǒng)。該計量系統(tǒng)占地面積小，采用更大視場、5MP 數(shù)碼攝像頭和全新電動 XY 工作臺，具有的二維/三維高分辨測量能力。ContourX-200 擁有出色的 Z 軸分辨率和精確度，具備布魯克專有白光干涉（WLI）技術(shù)廣受業(yè)界認(rèn)可的所有優(yōu)勢，而......

詳細(xì)介紹

布魯克 Bruker光學(xué)輪廓儀 ContourX-200 (圖1)