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ASLI半導(dǎo)體器件高低溫試驗(yàn)箱

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產(chǎn)品型號(hào)HL-80C

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更新時(shí)間：2024-03-15 11:29:06瀏覽次數(shù)：194次

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  高低溫老化試驗(yàn)機(jī)

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廣東艾思荔檢測儀器有限公司

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產(chǎn)品簡介

溫馨提示：本產(chǎn)品報(bào)價(jià)為參考價(jià)格，僅作支持網(wǎng)上展示用途

詳細(xì)介紹

溫馨提示：
本產(chǎn)品報(bào)價(jià)為參考價(jià)格，僅作支持網(wǎng)上展示用途。
產(chǎn)品具體規(guī)格、價(jià)格以我司銷售溝通報(bào)價(jià)為主。
半導(dǎo)體器件高低溫試驗(yàn)箱，控制器操作界面設(shè)中英文可供選擇，實(shí)時(shí)運(yùn)轉(zhuǎn)曲線圖可由屏幕顯示，具有100組程式、每組100段、每段可循環(huán)999步驟的容量，每段時(shí)間設(shè)定大值為99小時(shí)59分，資料及試驗(yàn)條件輸入后，控制器具有熒屏鎖定功能，避免人為觸摸而停機(jī)，具有RS-232或RS-485通訊界面，可在電腦上設(shè)計(jì)程式，監(jiān)視試驗(yàn)過程并執(zhí)行自動(dòng)開關(guān)機(jī)、數(shù)據(jù)等功能控制器。

半導(dǎo)體器件高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)指標(biāo)：
型號(hào)     工作室尺寸（mm）  外箱尺寸（mm）
HL-80     400*500*400     950*1650*950
HL-150    500*600*500    1050*1750*1050
HL-225    600*750*500    1200*1900*1150
HL-408    600*800*850    1200*1950*1350
HL-800    1000*1000*800  1600*2000*1450
HL-1000   1000*1000*1000  1600*2100*1450
溫度范圍:A型:25℃～150℃；B型:0℃～150℃；C型:-20℃～150℃；D型:-40℃～150℃；E型:-60℃～150℃；F型:-70℃～150℃
溫度范圍：-40℃～+80℃
升溫時(shí)間：-40℃～+80℃≤20分鐘；
降溫時(shí)間：+80℃～-40℃≤20分鐘；
溫度波動(dòng)度：≤±0.5℃
溫度偏差：≤±2℃
注：以上性能指標(biāo)是在設(shè)備周圍環(huán)境溫度為25℃±5℃,空載條件下測的數(shù)據(jù)。
半導(dǎo)體器件高低溫試驗(yàn)箱控制系統(tǒng)：
◆溫濕度顯示控制儀表采用熒幕操作簡單，無須按鍵輸入，精度：0.1℃(顯示范圍)，解析度：±0.1℃；
◆風(fēng)路循環(huán)出風(fēng)回風(fēng)設(shè)計(jì)，風(fēng)壓、風(fēng)速均符合測試標(biāo)準(zhǔn)，并可使開門瞬間溫度回穩(wěn)時(shí)間快。
◆升溫、降溫、系統(tǒng)獨(dú)立可提高效率，降低測試成本，增長壽命，減低故障率。
◆整體設(shè)備超溫；整體設(shè)備欠相/逆相；整體設(shè)備過載；制冷機(jī)組超壓；整體設(shè)備定時(shí)；
◆其它還有漏電、運(yùn)行指示，故障報(bào)警后自動(dòng)停機(jī)等保護(hù)。
◆具有熒屏自動(dòng)屏保功能，在運(yùn)轉(zhuǎn)或設(shè)定中，如發(fā)生錯(cuò)誤時(shí)，會(huì)提供警示迅號(hào)。
◆制冷機(jī)采用法國原裝“泰康”全封閉壓縮機(jī)。
◆干燥過濾器、冷媒流量視窗、修理閥、油分離器、電磁閥、貯液筒均采用進(jìn)口原裝件
◆冷凍系統(tǒng)采用單元或二元式低溫回路系統(tǒng)設(shè)計(jì)。
◆采用多翼式送風(fēng)機(jī)強(qiáng)力送風(fēng)循環(huán)，避免任何死角，可使測試區(qū)域內(nèi)溫度分布均勻。

半導(dǎo)體器件高低溫試驗(yàn)箱特點(diǎn)：
1、試驗(yàn)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)合理，制造工藝規(guī)范，外觀美觀、大方,維護(hù)保養(yǎng)方便。
2、零部件的配套與組裝匹配性好，主要功能元器件均采用具有水平的件，提高了產(chǎn)品的安全性和可靠性，能保證用戶長時(shí)間、高頻率的使用要求。
3、設(shè)備正常運(yùn)行所需的附帶條件已有配備，買方只需提供動(dòng)力電力和滿足要求的工作環(huán)境即可。
半導(dǎo)體器件高低溫試驗(yàn)箱標(biāo)準(zhǔn)：
1、GB10592.2-1989高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
2、GB11158-1989高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
3、GB105589-1989低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
4、GB/T2423.1-2001(IEC68-2-1)試驗(yàn)A低溫試驗(yàn)方法
5、GB/T2423.2-2001(IEC68-2-2)試驗(yàn)B高溫試驗(yàn)方法
6、GJB150.3-1986高溫試驗(yàn)
7、GJB150.4-1986低溫試驗(yàn)
8、GB2423.22溫度變化試驗(yàn)方法
半導(dǎo)體器件高低溫試驗(yàn)箱介紹：
艾思荔半導(dǎo)體器件高低溫試驗(yàn)箱壹叁伍叁捌肆陸玖零柒陸又名高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱，采用計(jì)算機(jī)技術(shù)、的PID控制方法對環(huán)境溫度、濕度進(jìn)行測量和控制，并可以與恒溫恒濕設(shè)備配套使用。半導(dǎo)體器件高低溫試驗(yàn)箱是根據(jù)國家相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造，廣泛適用于航空、航天、、艦船、電工、電子及材料等行業(yè)的產(chǎn)品整機(jī)及零部件的高低溫試驗(yàn)及溫度快速變化試驗(yàn)。以便對試品的性能和品質(zhì)作出評價(jià)。