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G200X納米壓痕儀/劃痕儀/微納力學(xué)/力學(xué)模塊/連續(xù)剛度

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產(chǎn)品簡介

詳細(xì)介紹

科磊公司 G200X 型第六代原位納米力學(xué)測試系統(tǒng)
在微/納尺度范圍內(nèi)的加載和位移構(gòu)成精確的力學(xué)測試
應(yīng)用應(yīng)用
–– 半導(dǎo)體器件, 薄膜
–– 硬質(zhì)涂層, DLC薄膜
–– 復(fù)合材料,光纖, 聚合物材料
–– 金屬材料,陶瓷材料
–– 無鉛焊料
–– 生物材料, 生物及仿生組織等等
*的設(shè)計(jì) *的設(shè)計(jì)
所有的納米壓痕試驗(yàn)都取決于精確的載荷和位移數(shù)據(jù)，科磊公司的第六代G200X型納米壓痕儀采用線性度的電磁驅(qū)動(dòng)的載荷裝置和相互獨(dú)立的三片電容位移傳感器，從而保證測量的精確度，的設(shè)計(jì)避免了橫向位移的影響。
科磊公司的第六代G200X型納米壓痕儀的杰出設(shè)計(jì)帶來很多的便利性，包括方便的測試到整個(gè)樣品臺(tái)，精確的樣品定位，方便的確定樣品位置和測試區(qū)域，簡便的樣品高度調(diào)整，以及快速的測試報(bào)告輸出。模塊化的控制器設(shè)計(jì)為今后的升級(jí)和維護(hù)帶來極大的方便。
此外，的第六代G200X型納米壓痕儀符合各種國際標(biāo)準(zhǔn)，保證了數(shù)據(jù)的完整性和可比性。客戶可以通過每個(gè)力學(xué)傳感器自主設(shè)計(jì)試驗(yàn)，在任何時(shí)候?qū)ζ溥M(jìn)行切換，同時(shí)整個(gè)設(shè)備占地面積小，適合各種實(shí)驗(yàn)室環(huán)境。