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沃特世SYNAPT G2-Si HDMS三維分辨率CID與ETD碎裂功能

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所  在  地蘇州市

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更新時(shí)間：2025-02-02 09:24:31瀏覽次數(shù)：175次

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

重新定義分辨率——三維分辨率信息

詳細(xì)介紹

重新定義分辨率——三維分辨率

信息。信息學(xué)。影響力。通過(guò)優(yōu)秀的質(zhì)譜性能、行業(yè)優(yōu)秀的信息學(xué)和很好的平臺(tái)通用性，SYNAPT G2-Si可以對(duì)復(fù)雜混合物和分子進(jìn)行詳盡表征。

  • 利用高效T-Wave IMS實(shí)現(xiàn)高效的分離
  • 優(yōu)良的UPLC/MS/MS性能
  • 數(shù)據(jù)獨(dú)立型和數(shù)據(jù)依賴型T-Wave IMS解決方案
  • CID與ETD碎裂功能
  • 多種實(shí)驗(yàn)類(lèi)型選擇

利用高效T-Wave IMS實(shí)現(xiàn)出色的分離

保留。遷移。質(zhì)量。某些情況下，色譜和質(zhì)量數(shù)分辨率還不能滿足要求。借助高效T-Wave離子淌度技術(shù)，您可以在分子大小和形狀的基礎(chǔ)上獲得另一個(gè)分離維度。利用分子碰撞截面特性這一項(xiàng)的功能，可以提供高水平的選擇性、特異性、靈敏度和結(jié)構(gòu)分析。其優(yōu)點(diǎn)還包括同分異構(gòu)體分離、消除干擾、生成更干凈的譜圖，以及更準(zhǔn)確地識(shí)別化合物ID。

 

優(yōu)異的UPLC/MS/MS性能

將StepWave和UPLC分離與定量飛行時(shí)間（QuanTof）技術(shù)相結(jié)合，實(shí)現(xiàn)較高的峰容量和數(shù)據(jù)質(zhì)量。StepWave是目前靈敏和可靠的離子源，具有“主動(dòng)"選擇離子和“被動(dòng)"防止中性污染物的功能。

與其他所有質(zhì)譜分析器不同，QuanTof能夠提供高質(zhì)量數(shù)高分辨率、精確質(zhì)量數(shù)和準(zhǔn)確的同位素比例、寬的動(dòng)態(tài)范圍（譜圖內(nèi)和定量）和m/z范圍，并且都可以在較快的采集速率實(shí)現(xiàn)，即便是對(duì)于高基質(zhì)負(fù)荷的樣品也是如此。

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數(shù)據(jù)獨(dú)立型和數(shù)據(jù)依賴型T-Wave IMS解決方案

適用范圍和效率優(yōu)良，適用于復(fù)雜混合物的分析。通用型UPLC/HDMSE采集技術(shù)可以記錄每個(gè)可檢測(cè)的分子離子的碎片離子數(shù)據(jù)，與其它“數(shù)據(jù)獨(dú)立型分析"（DIA）技術(shù)相比，具有良好的占空比；同時(shí)我們的HDMS信息學(xué)技術(shù)可以為各種各樣的應(yīng)用提供精簡(jiǎn)的數(shù)據(jù)分析流程。 要想獲得更高效、更有效的靶向MS/MS，請(qǐng)選用啟用T-Wave IMS的工作流程。提高M(jìn)S/MS靈敏度，利用HD-DDA（數(shù)據(jù)引導(dǎo)分析）在研發(fā)實(shí)驗(yàn)中實(shí)現(xiàn)更高的覆蓋；并結(jié)合HD-MRM，使用靶分子的任何碎片來(lái)獲得更低的定量限。

 

CID與ETD碎裂功能

TriWave的雙碰撞室結(jié)構(gòu)可提供碰撞誘導(dǎo)解離（CID）和/或電子轉(zhuǎn)移解離（ETD）碎裂，并且同時(shí)得到高分辨率和精確質(zhì)量數(shù)，從而獲得更好的MS/MS檢測(cè)結(jié)果。高解析度四極桿包括4KDa、8KDa或32KDa質(zhì)量數(shù)范圍，適用于從小分子到大分子的MS/MS測(cè)定。

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多種實(shí)驗(yàn)類(lèi)型選擇

沃特世的離子源結(jié)構(gòu)可與各種技術(shù)相結(jié)合：對(duì)于分離，可結(jié)合UPLC、nanoUPLC、HDX Automation、APGC和UPC2；對(duì)于電離，可結(jié)合ESI、APCI、ASAP、 DESI、DART和LDTD。它們可快速互換，在幾分鐘內(nèi)即可使用。 對(duì)于直接進(jìn)樣分析方法，T-Wave IMS可提供優(yōu)秀的電離后選擇性與特異性。在與高性能可以與大氣壓離子源快速切換MALDI選件結(jié)合時(shí)，這一點(diǎn)具有非常明顯的優(yōu)勢(shì)。

 



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