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日立FlexSEM 1000掃描電子顯微鏡

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中山安源儀器有限公司

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

特點(diǎn)緊湊型設(shè)計(jì)

詳細(xì)介紹

緊湊型設(shè)計(jì)，分辨率為4 nm^*1

通過(guò)高靈敏度二次電子探測(cè)器，背散射探測(cè)器，低真空探測(cè)器（UVD^*2），實(shí)現(xiàn)低加速電壓/低真空下高質(zhì)量圖像觀察

操作簡(jiǎn)捷，即使新手也能拍出高質(zhì)量的圖片

新開(kāi)發(fā)的導(dǎo)航功能「SEM MAP」，便于快速鎖定視野

大窗口（30 mm²）SDD能譜系統(tǒng)，便于快速分析元素成分^*2

規(guī)格

項(xiàng)目	內(nèi)容
分解能*3	4.0 nm @ 20 kV （SE：高真空模式） 15.0 nm @ 1 kV （SE：高真空模式） 5.0 nm @ 20 kV （BSE：低真空模式）
加速電壓	0.3 kV ～ 20 kV
放大倍率	6× ～ 300,000× （底片倍率） 16× ～ 800,000× （顯示倍率）
低真空模式	真空范圍：6 ～ 100 Pa
電子槍	預(yù)對(duì)中鎢燈絲
樣品臺(tái)	3-軸自動(dòng)馬達(dá)臺(tái) X：0 ～ 40 mm, Y：0 ～ 50 mm, Z：5 ～ 15 mm R：360°, T：-15° ～＋90°
樣品尺寸	直徑80 mm
樣品高度	40 mm
尺寸	主機(jī)：450（W） x 640（D） x 670（H） mm 供電單元：450（W） x 640（D） x 450（H） mm
探測(cè)器選配	· 高靈敏度低真空二次電子探測(cè)器（UVD） · 能量分散型X線探測(cè)器（EDS）