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NKT-N9納米激光粒度儀

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山東耐克特分析儀器有限公司

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產(chǎn)品簡介

NKT-N9納米激光粒度儀

詳細(xì)介紹

NKT-N9納米激光粒度儀
新NKT-N9HH是我公司推出的基于動(dòng)態(tài)光散射原理的納米粒度儀。它采用高速數(shù)字相關(guān)器和專業(yè)的高性能光電倍增管作為核心器件，具有快速、高分辨率、重復(fù)及準(zhǔn)確等特點(diǎn)，是納米顆粒粒度測定的產(chǎn)品。

主要性能特點(diǎn)：
*的測試原理：本儀器采用動(dòng)態(tài)光散射原理和光子相關(guān)光譜技術(shù)，根據(jù)顆粒在液體中的布朗運(yùn)動(dòng)的速度測定顆粒大小。小顆粒布朗運(yùn)動(dòng)速度快，大顆粒布朗運(yùn)動(dòng)速度慢，激光照射這些顆粒，不同大小的顆粒將使散射光發(fā)生快慢不同的漲落起伏。光子相關(guān)光譜法就根據(jù)特定方向的光子漲落起伏分析其顆粒大小。因此本儀器具有原理*、精度的特點(diǎn)，從而保證了測試結(jié)果的真實(shí)性和有效性；是納米激顆粒粒度測定的儀器。
高靈敏度與信噪比：本儀器的探測器采用專業(yè)級(jí)高性能光電倍增管（PMT），對(duì)光子信號(hào)具有的靈敏度和信噪比，從而保證了測試結(jié)果的準(zhǔn)確度；
的運(yùn)算功能：使用PCS技術(shù)測定納米級(jí)顆粒大小，必須能夠分辨納秒級(jí)信號(hào)起伏。本儀器的核心部件采用專用集成電路ASIC研制的高速光子相關(guān)器，具有識(shí)別6ns的分辨能力和的信號(hào)處理速度，可快速實(shí)時(shí)的采集光子數(shù)并計(jì)算相關(guān)運(yùn)算，我測試尊確定奠定基礎(chǔ)。
雙波長激光器：采用雙波長（λ=454nm、λ=532nm）激光器搭建而成的光路系統(tǒng)，相關(guān)譜探測系統(tǒng)不僅體積小，而且具有很強(qiáng)的抗力，從而保證了測試的穩(wěn)定性；某些樣品具有吸光屬性，傳統(tǒng)單一波長激光器對(duì)這些樣品無法檢測，我司NKT-N9H搭載的雙波長激光器能有效檢測此類樣品。
高精度溫控系統(tǒng)：樣品池溫控系統(tǒng)和激光器溫控系統(tǒng)精度高達(dá)±0.1℃，使被測樣品和激光器光源在整個(gè)測試過程中都處于恒溫狀態(tài)，避免溫度變化對(duì)不測試結(jié)果的影響，確保測試的準(zhǔn)確性和重復(fù)性；
功能的分析軟件：分析軟件中反演算法采用國際標(biāo)準(zhǔn)推薦的累計(jì)量法以及目前比較通用的非負(fù)最小二乘法（NNLS）和Contin等多種算法，其測試結(jié)果與國際的同類產(chǎn)品具有很好的一致性；
測試精準(zhǔn)并穩(wěn)定：高性能的硬件和國際標(biāo)準(zhǔn)化的反演算法的結(jié)合，造就了Nano90測試結(jié)果的精準(zhǔn)與重復(fù)，其測試準(zhǔn)確度和重復(fù)性等指標(biāo)均高于國際標(biāo)準(zhǔn)要求。
全新散熱系統(tǒng)：新N9進(jìn)行了雙氣流設(shè)計(jì)，熱氣流直接排出儀器外殼，倍增管、激光器、相關(guān)器等重要部件不再受熱氣流的影響，測量數(shù)據(jù)更加準(zhǔn)確、更穩(wěn)定，同時(shí)大大延長了這些重要部件的使用壽命。
自動(dòng)感應(yīng)滑門：新N9加裝了比色皿門自動(dòng)開啟、閉合功能，當(dāng)手靠近儀器時(shí)滑門會(huì)自動(dòng)打開方便測試人員拿取比色皿，當(dāng)手遠(yuǎn)離儀器時(shí)滑門會(huì)自動(dòng)閉合。

此款納米粒度儀已經(jīng)達(dá)到國外納米粒度儀的測試水平！

NKT-N9光相關(guān)納米粒度儀技術(shù)參數(shù)及詳細(xì)配置

規(guī)格型號(hào)	NKT-N9H
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)	GB/T 29022-2012/ISO 22412：2008
測試范圍	1-10000nm(與樣品有關(guān))
濃度范圍	0.1mg/L-100mg/L
準(zhǔn)確度誤差	<1%（國家標(biāo)準(zhǔn)樣品平均粒徑）
重復(fù)性誤差	<1%（國家標(biāo)準(zhǔn)樣品平均粒徑）
激光	λ=405nm，λ=532nm（雙波長激光器）
探測器	光電倍增管（PMT）
散射角	90°
樣品池	10mm*10mm , 4ml（帶溫控保護(hù)）
溫度范圍	8-45℃（溫度精確到0.1℃）
測試速度	<1Min/次（不含樣品分散時(shí)間）