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導(dǎo)電鞋電阻測(cè)試儀

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更新時(shí)間：2023-04-20 22:29:00瀏覽次數(shù)：132次

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高溫四探針電阻率測(cè)試儀可以測(cè)量硅、鍺單晶電阻率和硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測(cè)量導(dǎo)電玻璃和其他導(dǎo)電薄膜的方塊電阻，主要用于半導(dǎo)體薄膜和薄片的導(dǎo)電性能，高溫四探針電阻率測(cè)試儀就是，主要測(cè)量的參數(shù)就是半導(dǎo)體材料的電阻、電阻率、方塊電阻等

詳細(xì)介紹

　　四探針電阻率測(cè)試儀，四探針?lè)ㄊ且环N簡(jiǎn)便的測(cè)量電阻率的方法。四探針?lè)y(cè)量電阻率有個(gè)非常大的優(yōu)點(diǎn)，它不需要較準(zhǔn)；有時(shí)用其它方法測(cè)量電阻率時(shí)還用四探針?lè)ㄝ^準(zhǔn)。

　　四探針電阻率測(cè)試儀注意事項(xiàng)：

　　1、儀器操作前請(qǐng)您仔細(xì)閱讀使用說(shuō)明書，規(guī)范操作；

　　2、輕拿輕放，避免儀器震動(dòng)，水平放置，垂直測(cè)量；

　　3、儀器不使用時(shí)請(qǐng)切斷電源，連接線無(wú)需經(jīng)常拔下，避免灰塵進(jìn)入航空插引起短接等現(xiàn)象；

　　4、探針筆測(cè)試結(jié)束，套好護(hù)套，避免人為斷針。

　　四探針電阻測(cè)試儀由主機(jī)、選配的四探針探頭和測(cè)試臺(tái)等三部分組成。

　　主機(jī)主要由數(shù)控恒流源，高分辨率 ADC、嵌入式單片機(jī)系統(tǒng)組成。自動(dòng)/手動(dòng)量程可選；電阻率、方阻、電阻測(cè)試類別快捷切換：儀器所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用數(shù)字化鍵盤輸入，簡(jiǎn)便可靠；具有零位、滿度自校功能；測(cè)試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。

　　四探針電阻率測(cè)試儀測(cè)試四探針筆方法：

　　一般情況下，更換鋼針之類，不需要拆開(kāi)探頭，只需要用拔出要更換的鋼針，再重新安裝新針，如果斷針在孔內(nèi)并且不拆開(kāi)難以取出，必須按照以下步驟進(jìn)行操作：

　　1、先松開(kāi)筆身尾部端側(cè)面的固定小螺絲，輕輕脫下尾部航空插口，保證探針頭部旋轉(zhuǎn)時(shí)同步旋轉(zhuǎn)，防止扭線斷線，短接;

　　2、輕輕擰開(kāi)探針頭子，然后小心將銅片拉出，記住七片絕緣片與銅片之間的位置，(四片銅片每片間夾一片絕緣片，兩邊的銅片外側(cè)各兩片)，將斷針從銅片卡口座里取下即可;

　　3、特別注意一定不能將銅片取下時(shí)的位置錯(cuò)亂，銅片位置按照航空頭四芯1234接線綠紅黃黑的順序一字排列，并且銅片之間按照寬窄順序互相交叉排列，以免短接;

　　4、安裝時(shí)銅片及絕緣片按照拆下時(shí)的排列輕輕塞進(jìn)探針頭子，并先將探針頭子擰緊，再將尾部航空頭插上，并且旋緊小螺絲;

　　5、將針裝好，注意針頭針尾方向，尖頭為探針頭部。

　　未來(lái)的發(fā)展中，北京北廣精儀儀器設(shè)備有限公司將繼續(xù)依托強(qiáng)大的技術(shù)優(yōu)勢(shì)，以客戶滿意為目標(biāo)，公司的宗旨是：以形象求發(fā)展，以服務(wù)求效益，以誠(chéng)信為準(zhǔn)則，以質(zhì)量為生命。