詳細摘要： 美國Semisonsoft膜厚測量儀MProbe-MAKINGTHINFILMSTHICKNESSMEASUREMENTEASY美國Semisonsoft公司M...
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上海昊量光電設備有限公司
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詳細摘要： MPROBE50INSITU–實時薄膜厚度測量儀原位薄膜厚度測量儀-MPROBE50INSITU用于測量薄膜厚度和n原位薄膜厚度測量儀-MPROBE50INSI...
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詳細摘要： 薄膜厚度均勻度測量系統(tǒng)-MPROBE60（精確定位測量）MProbe60是一站式系統(tǒng)，專為研發(fā)中心和小型制造而設計
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詳細摘要： 薄膜無損檢測系統(tǒng)，半導體無損檢測系統(tǒng)l產品特點系統(tǒng)使用獲得zuanli的光聲技術設計無損測量系統(tǒng)
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詳細摘要： 在線薄膜厚度實時測量儀-MPROBE70在線薄膜厚度實時測量儀-MPROBE70是一種高性能厚度測量系統(tǒng)
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詳細摘要： Xper-IP激光干涉膜厚測量儀Xper-IP是基于公司的光譜干涉技術的一款激光干涉膜厚儀，是一種非接觸式、無損的、且快速的光學薄膜厚度測量設備
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詳細摘要： KALEO測量工作站【KALEOMTF簡介】KaleoMTF測量儀結合了與傳函儀的功能，是檢測鏡片組、鏡頭和光學系統(tǒng)性能的工具，可適用于鏡頭設計、原型制作或生產...
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詳細摘要： KALEOIR系列紅外光學測試臺【KALEOIR套件簡介】KaleoIR系列紅外光學測試臺使紅外鏡頭的質量監(jiān)控變得快速有效，只需單次圖像采集即可獲得全部空間頻率...
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詳細摘要： 高精度測量儀便攜式、高精度光學傳遞函數(shù)（MTF）測量儀！法國公司高精度MTF測量儀可以提供全面的鏡頭測試：軸上MTF
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詳細摘要： 光腔衰蕩光譜方法（CRDS，CavityRing-DownSpectroscopy）是一種基于高精細度諧振腔的高靈敏度探測技術，主要用于測量各種反射率大于99%...
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詳細摘要： 圓二色譜儀-高通量對映體過量測量（ee）儀(EKKOCD)圓二色譜儀-高通量對映體過量測量（ee）儀(EKKOCD)，是手性分析/催化劑手性測量常用的技術，是指...
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詳細摘要： MD激光測距傳感器（距離測量）MD激光測距傳感器系列只對自身發(fā)出的光源敏感，因此不受外界環(huán)境光等干擾
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詳細摘要： 非接觸式金屬膜厚測量儀昊量光電新推出用于導電薄膜和薄金屬層膜厚測量的非接觸式金屬膜厚測量儀EddyCusTFSeries，這款金屬膜厚測量儀可以非接觸式實時測量...
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詳細摘要： Film-Sense多波長上海昊量光電推出的多波長橢偏儀采用長壽命的LED光源，可分別提供405nm、450nm、465nm、525nm、595nm、635nm...
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詳細摘要： KALEO多波長激光模塊【KALEO多波長激光干涉儀模塊簡介】Kaleo多波長激光干涉儀是用于光學計量的模塊化系統(tǒng)
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詳細摘要： 高分辨率激光便攜式、高分辨率、高動態(tài)范圍激光干涉儀！超分辨剪切干涉儀(High-resolution)是一款便攜式、高靈敏度、高精度的
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詳細摘要： Difrotec點衍射激光-大口徑（≥700mm）高精度（≤0.6nmRMS）Difrotec點衍射激光干涉儀--大口徑（≥700mm）、高精度（≤0.6nmR...
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