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ZEISS METROTOM X射線工業(yè)CT掃描儀（無損檢測）

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更新時間：2022-12-28 17:30:45瀏覽次數(shù)：313次

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產(chǎn)品簡介

基于ZEISSMETROTOM的工業(yè)計算機(jī)斷層掃描（CT）利用蔡司的工業(yè)計算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)，僅需一次X射線掃描，即可順利完成工件的測量和檢驗(yàn)

詳細(xì)介紹

基于 ZEISS METROTOM 的工業(yè)計算機(jī)斷層掃描（CT）

利用蔡司的工業(yè)計算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)，僅需一次X射線掃描，即可順利完成工件的測量和檢驗(yàn)。標(biāo)準(zhǔn)的驗(yàn)收檢測、精密工程和完善的校準(zhǔn)程序可確保系統(tǒng)的追蹤性。配備線性導(dǎo)軌及轉(zhuǎn)臺，滿足客戶對精度的高要求。

測量與檢驗(yàn)整體部件

ZEISS METROTOM是一種用于測量和檢驗(yàn)塑料或輕金屬部件的工業(yè)計算機(jī)斷層掃描測量系統(tǒng)。而在利用傳統(tǒng)測量機(jī)測量時，此類隱藏性的結(jié)構(gòu)信息只有將零件通過費(fèi)時的層層破壞方能獲得。