簡(jiǎn)介內(nèi)容：3H-2000PM1氣凝膠比表面及孔徑分析儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，可升級(jí)為雙站微孔測(cè)試功能，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求的科研單位和企業(yè)用戶。

詳細(xì)介紹

硅基氣凝膠比表面及孔徑分析儀

測(cè)試原理：
在液氮溫度下（77.3k），向裝有吸附劑的樣品管內(nèi)投入一定量的吸附質(zhì)氣體（N2），吸附過程（脫附）達(dá)到動(dòng)態(tài)平衡后，系統(tǒng)前后將發(fā)生壓力變化，通過氣體狀態(tài)方程：PV=nRT，計(jì)算得到該分壓點(diǎn)的吸附量。然后繪制分壓-吸附量的吸附脫附等溫線曲線，根據(jù)不同比表面積理論計(jì)算模型計(jì)算得到樣品的比表面積和孔徑分布。

測(cè)試?yán)碚摚?/strong>
◆  吸附、脫附等溫線；
◆  BET單點(diǎn)法，多點(diǎn)法比表面  朗格繆爾（Langmuir）比表面;
◆  統(tǒng)計(jì)吸附層厚度法外比表面（STSA）粒度估算報(bào)告和真密度；
◆  BJH法吸脫附孔容孔徑分布；
◆  MK-plate法（平行板模型）孔容孔徑分布；
◆  t-plot法微孔分析；
◆  MP法(Brunauer) 微孔分析；
◆  D-R法微孔分析；
◆  HK法微孔分析；
◆  DFT法微孔分析

產(chǎn)品：
◆2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1個(gè)樣品分析站,1個(gè)P0測(cè)試位，2路獨(dú)立冷阱;
(名稱：靜態(tài)法比表面及孔徑分析儀的凈化預(yù)處理裝置.號(hào)：ZL. 9)

◆獨(dú)立的高精度飽和蒸汽壓（P0）實(shí)時(shí)測(cè)試站;
(名稱：靜態(tài)法比表面及孔徑分析儀的飽和蒸汽壓測(cè)試裝置.號(hào)：ZL.X)

◆飽和蒸氣壓螺旋P0管：采用螺旋狀的P0管作為飽和蒸汽壓管，與儀器主機(jī)連接，能夠更快的達(dá)到液氮溫度，是的測(cè)試的飽和蒸汽壓更接近真實(shí)值(與進(jìn)口等溫夾的效果一樣，解決了直形不銹鋼P(yáng)0管測(cè)試結(jié)果偏大2%的問題)，提高測(cè)試精度。
(名稱：飽和蒸氣壓螺旋P0管及靜態(tài)法比表面及孔徑分析儀.號(hào)：ZL.2）

◆雙冷阱保護(hù)真空系統(tǒng)和分子泵;
(名稱:具有除塵防污染裝置的靜態(tài)容量法比表面及孔徑分析儀.號(hào):.X)

◆貝士德的脫氣位濾塵袋，消除對(duì)儀器內(nèi)部結(jié)構(gòu)的污染
結(jié)合貝士德的渦旋降塵原理的硬件防抽飛裝置，能夠在不降低現(xiàn)有氣體流導(dǎo)前提下實(shí)現(xiàn)粉塵過濾功能，杜絕粉末樣品對(duì)儀器內(nèi)部結(jié)構(gòu)的污染，抽真空脫氣時(shí)間縮短、效果提高。
(名稱：具有脫氣位濾塵袋裝置的靜態(tài)法物理吸附儀.號(hào)：ZL.3)

◆自動(dòng)加蓋：儀器必須具有液氮杯自動(dòng)加蓋功能，能夠有效的減少液氮的揮發(fā)，同時(shí)也可避免水蒸氣在杜瓦杯口和樣品管上冷凝結(jié)冰；
(名稱：加蓋裝置及靜態(tài)法比表面及孔徑分析儀.號(hào)：ZL.40)

技術(shù)特色及優(yōu)勢(shì)：
◆BEST多路歧管系統(tǒng)
的 BEST 多路歧管系統(tǒng)，對(duì)控制閥進(jìn)行整體集成設(shè)計(jì)，模塊化組裝，將真空管路減少到極限，將死體積空間降到，儀器密封性提高5倍以上，達(dá)到進(jìn)口儀器水平。

◆的集成式模塊化組裝管路
真正意義上的全模塊化氣路結(jié)構(gòu)，整個(gè)氣路模塊為整塊不銹鋼加工而來，無任何螺紋密封及管路壓接或焊接接口，消除泄露點(diǎn)，整個(gè)腔體漏率低于 10-10Pa*m3/s；

◆獨(dú)立的脫氣與分析真空系統(tǒng)
儀器配備兩套獨(dú)立的真空系統(tǒng)，既脫氣系統(tǒng)和分析系統(tǒng)相互獨(dú)立；脫氣系統(tǒng)配備獨(dú)立的雙級(jí)機(jī)械真空泵，極限真空達(dá)到 10-2Pa，分析位配備獨(dú)立“雙級(jí)機(jī)械真空泵+德國渦輪分子泵”，極限真空達(dá)到 10-6Pa。

◆高精度分段壓力測(cè)量
儀器的關(guān)鍵部件壓力傳感器采用電容硅薄膜壓力傳感器，讀數(shù)精度誤差≤+0. 15%。

測(cè)試報(bào)告：

標(biāo)簽：BET   比表面積   DFT   理論計(jì)算   Langmuir   微孔材料   介孔材料