第二十六屆高校分析測試中心研究會年會暨第二屆中國分析測試協(xié)會高校分析測試分會年會于2022年8月19日-21日在江蘇鎮(zhèn)江圓滿舉辦，會議由江蘇大學分析測試中心、江蘇大學化學化工學院、大連科學邦信息技術(shù)有限公司承辦，江蘇省分析測試協(xié)會協(xié)辦。會議分為5個分論壇，邀請超300位專家學者，采用線上線下同步直播的方式，圍繞高校分析測試平臺發(fā)展與標準化體系建設(shè)的機遇和挑戰(zhàn)，前沿科學研究與技術(shù)創(chuàng)新發(fā)展等相關(guān)熱點問題，組織專題報告、開展研討交流。
會議首先由中國分析測試協(xié)會高校分析測試分會主任委員/清華大學教授李景虹院士，江蘇大學校長顏曉紅致開幕辭，顏校長對參會嘉賓的蒞臨表示誠摯歡迎，并預祝本次大會圓滿成功。隨后，會議進入到大會報告環(huán)節(jié)，李景虹院士、中國分析測試協(xié)會理事長/中國環(huán)境化學與生態(tài)毒理學國家重點實驗室江桂斌院士、中國鋼研科技集團有限公司王海舟院士、國家認可與檢驗檢測監(jiān)管司一級巡視員喬東、高等學?？茖W研究發(fā)展中心處長曾艷、江蘇大學分析測試中心主任李艷肖分別帶來精彩的報告。
江蘇大學校長 顏曉紅致詞
《高校分析測試分會工作報告》
中國分析測試協(xié)會高校分析測試分會主任委員/清華大學教授 李景虹院士
《新污染物治理——從基礎(chǔ)研究到國家戰(zhàn)略》
中國分析測試協(xié)會理事長/中國環(huán)境化學與生態(tài)毒理學國家重點實驗室江桂斌院士
《標準化——高質(zhì)量發(fā)展的重要引擎》
中國鋼研科技集團有限公司 王海舟院士
島津企業(yè)管理(中國)有限公司(以下簡稱“島津”)積極參與并支持了本次大會，在首日的分會場報告中，分析計測市場部XPS技術(shù)專家龔沿東先生為與會代表帶來了題為《表面分析- X射線光電子能譜(XPS)-從超薄到超厚》的報告，介紹了XPS分析的基本原理及島津/Kratos的光電子能譜儀的特色硬件，給出了從表面的超薄層(~1nm)到超厚層(~20微米)的元素及其化學狀態(tài)的深度分布的分析方法。利用角分辨XPS分析技術(shù)并配合熵表面深度信息重構(gòu)軟件，可以將XPS的信息深度從常規(guī)的法向檢測10nm減小至1nm左右；使用島津/Kratos的單色高能Ag陽極，可以將XPS的信息深度從普通常規(guī)單色Al陽極的10nm延展到20nm左右；結(jié)合島津/Kratos能量20keV的Ar團簇離子槍，可以實現(xiàn)超厚膜層結(jié)構(gòu)的高速深度剖析。與會專家對島津的報告給予了高度評價。
《表面分析- X射線光電子能譜(XPS)-從超薄到超厚》
島津企業(yè)管理(中國)有限公司 龔沿東先生發(fā)表
會議期間，許多參會專家蒞臨島津展位，翻閱和下載電子應用資料，同時與島津工作人員就合作項目、技術(shù)難點等進行了溝通交流。
島津企業(yè)管理(中國)有限公司 展臺
