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武漢茂迪科技有限公司
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產(chǎn)品型號(hào)MA100/150e Gen2
品 牌
廠商性質(zhì)其他
所 在 地武漢市
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更新時(shí)間:2024-04-30 08:28:47瀏覽次數(shù):202次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來自 環(huán)保在線基于SUSSMicroTec的光刻機(jī)經(jīng)典設(shè)計(jì),MA100/150eGen2提供了的工藝延展性,使客戶能夠?qū)⑿碌男酒O(shè)計(jì)快速投入市場(chǎng),其光刻作業(yè)產(chǎn)量高達(dá)每小時(shí)145片
基于SUSS MicroTec的光刻機(jī)經(jīng)典設(shè)計(jì),MA100/150e Gen2提供了的工藝延展性,使客戶能夠?qū)⑿碌男酒O(shè)計(jì)快速投入市場(chǎng),其光刻作業(yè)產(chǎn)量高達(dá)每小時(shí)145片。
MA100/150e Gen2針對(duì)上至4英寸的小尺寸晶圓片進(jìn)行了特別優(yōu)化設(shè)計(jì)。系統(tǒng)可以穩(wěn)定地達(dá)到優(yōu)于0.7µm的對(duì)準(zhǔn)精度(直接對(duì)準(zhǔn))。選配的底部對(duì)準(zhǔn)功能(BSA),對(duì)準(zhǔn)精確度優(yōu)于±1.5 µm。MA100/150e的對(duì)準(zhǔn)單元針對(duì)LED制造工藝要求進(jìn)行了特別調(diào)校,透明和表面粗糙的晶圓片都能獲得的對(duì)比度。
在光刻工藝中,只需對(duì)準(zhǔn)器件晶圓同側(cè)的結(jié)構(gòu)(例如再布線層、微凸點(diǎn) 等),用頂部對(duì)準(zhǔn)功能將掩模位置標(biāo)記對(duì)準(zhǔn)晶圓位置標(biāo)記。 根據(jù)襯底的特性,這可以用存儲(chǔ)的晶圓位置數(shù)據(jù)或者用兩個(gè)現(xiàn)場(chǎng)照片 、SUSS MicroTec 開發(fā)的DirectAlign™ 直接對(duì)準(zhǔn)技術(shù)實(shí)現(xiàn)。
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應(yīng)用微電子機(jī)械系統(tǒng)(MEMS)、圓晶級(jí)封裝和三維集成的工藝,例如在接板上制造垂直通孔 (TSV),需要與正面結(jié)構(gòu)對(duì)準(zhǔn)的晶圓背面結(jié)構(gòu)。 此時(shí)常使用光學(xué)背面對(duì)準(zhǔn)。 集成攝像機(jī)系統(tǒng)采集掩模結(jié)構(gòu)和晶片背面結(jié)構(gòu)并將它們相互對(duì)準(zhǔn)。 由于晶圓在裝載掩模靶后被覆蓋,必須預(yù)先確定并存儲(chǔ)其位置。 這對(duì)整個(gè)對(duì)準(zhǔn)系統(tǒng)提出了特殊的要求。
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提高對(duì)準(zhǔn)精度
當(dāng)對(duì)套刻精度有較高要求時(shí),大大提升標(biāo)準(zhǔn)系統(tǒng)的自動(dòng)對(duì)準(zhǔn)功能。DirectAlign®,SüSS MicroTecs 圖像識(shí)別軟件附加功能,放棄圖片存儲(chǔ)系統(tǒng)中的結(jié)構(gòu)圖文件,取而代之的是訪問實(shí)況圖。結(jié)構(gòu)識(shí)別基于工業(yè)標(biāo)準(zhǔn) PatMax 且取得了優(yōu)異成績(jī)。因此,在 SUSS 掩模對(duì)準(zhǔn)器上用 Direct Align® 進(jìn)行頂面對(duì)準(zhǔn)時(shí)對(duì)準(zhǔn)精度可達(dá)到 0.5 微米。
對(duì)易混淆結(jié)構(gòu)或視野受限的苛刻對(duì)準(zhǔn)過程建議使用強(qiáng)化對(duì)準(zhǔn)。
多層晶圓堆疊被應(yīng)用在許多構(gòu)造工藝中。 用紅外照射可以識(shí)別并對(duì)準(zhǔn)通常埋在層之間的對(duì)準(zhǔn)標(biāo)記。
紅外光還可以根據(jù)這些埋入的標(biāo)記進(jìn)行對(duì)準(zhǔn)。 這需要使用能透過紅外線的材料,例如硅、III-V族半導(dǎo)體(如砷化鎵)以及臨時(shí)鍵合和鍵合分離工藝中所使用的粘著劑 通過個(gè)例研究檢查可行性。
為了盡可能擴(kuò)大紅外對(duì)準(zhǔn)的使用范圍,SUSS 掩模對(duì)準(zhǔn)器可以選配強(qiáng)大的紅外光源和高性能攝像系統(tǒng)。
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將一個(gè)已形成結(jié)構(gòu)的掩模與圓晶對(duì)齊,然后將掩模與圓晶的距離縮得非常?。ㄒ虼擞纸小敖咏焦饪?)。 在曝光過程中,掩模結(jié)構(gòu)的影子被轉(zhuǎn)移到圓晶上。 掩模于圓晶之間距離的精度以及曝光鏡頭系統(tǒng)的質(zhì)量,一起決定了曝光結(jié)果的質(zhì)量。
該方法因?yàn)樗俣瓤?,?yīng)用靈活,從而成為微結(jié)構(gòu)生產(chǎn)成本效益的方法,它能生產(chǎn)出最小3微米的微結(jié)構(gòu)。 接觸式曝光能達(dá)到亞微米級(jí)別的分辨率。 典型的應(yīng)用范圍包括圓晶級(jí)芯片尺寸封裝、倒裝芯片封裝、凸點(diǎn)、微電子機(jī)械系統(tǒng)(MEMS)、LED和電力設(shè)備等領(lǐng)域。 這些系統(tǒng)被應(yīng)用到了大規(guī)模生產(chǎn)的以及工業(yè)研究領(lǐng)域中。
SUSS MicroTec 公司的掩模對(duì)準(zhǔn)器以陰影工藝為基礎(chǔ)。
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