當前位置：武漢茂迪科技有限公司>>>>布魯克非接觸光學輪廓儀ContourGT

布魯克非接觸光學輪廓儀ContourGT

返回列表頁

參考價

面議

具體成交價以合同協(xié)議為準

產(chǎn)品型號布魯克ContourGT

品牌

廠商性質(zhì)其他

所在地

在線詢價收藏產(chǎn)品查看聯(lián)系電話

聯(lián)系方式：王先生查看聯(lián)系方式

更新時間：2022-12-18 18:18:45瀏覽次數(shù)：273次

聯(lián)系我時，請告知來自環(huán)保在線

產(chǎn)品分類 品牌分類

暫無信息

武漢茂迪科技有限公司

經(jīng)營模式：其他

商鋪產(chǎn)品：476條

所在地區(qū)：

聯(lián)系人：王先生

詢價 給他留言

產(chǎn)品簡介

ContourGT表面計量系列產(chǎn)品用于生產(chǎn)和研發(fā)的非接觸式三維光學輪廓儀業(yè)界垂直分辨率的可靠性和測量重復性的表面測量和分析速度的使用性

詳細介紹

ContourGT表面計量系列產(chǎn)品
用于生產(chǎn)和研發(fā)的非接觸式三維光學輪廓儀

業(yè)界垂直分辨率
的可靠性和測量重復性
的表面測量和分析速度
的使用性，操作簡便，分析功能強大

30年技術(shù)革新，實現(xiàn)非接觸式表面測量技術(shù)高峰

ContourGT系列結(jié)合*的64位多核操作和分析處理軟件，技術(shù)白光干涉儀（WLI）硬件和的操作簡易性，推出歷年來來的3D光學表面輪廓儀系統(tǒng)。第十代光學表面輪廓儀擁有超大視野內(nèi)埃級至毫米級的垂直計量范圍，樣品安裝靈活，且具有業(yè)界的測量重復性。ContourGT系列是當今生產(chǎn)研究和質(zhì)量控制應用中，泛使用和最直觀的3D表面計量平臺。

業(yè)界的垂直分辨率，大的測量性能

0.5倍至200倍的放大倍率，在極寬的測量范圍內(nèi)，對樣品表面形狀和紋理進行表征。
任何倍率下亞埃級至毫米級垂直測量量程提供了無以倫比的測量靈活性。
高分辨率攝像頭可選配件，提高了橫向分辨率和GR&R測量的重復性。

多核處理器下運行的Vision64? 軟件，大大提高三維表面測量和分析速度

新的軟件設計使數(shù)據(jù)處理速度提高幾十倍。
多核處理器和64位軟件使數(shù)據(jù)分析速度提高十倍。
無以倫比的無縫拼接能力，可以把成千上萬個數(shù)據(jù)拼接成一張連續(xù)的圖像

測量硬件的設計增強生產(chǎn)環(huán)境中的可靠性和重復性

高亮度的雙LED照明技術(shù)提高測量質(zhì)量。
化的硬件設計提高了儀器對震動的容忍度和GR&R測量的能力。
的自動校準能力確保了儀器與儀器之間的相關性，測量準確度和重復性。

高度直觀的用戶界面，擁有業(yè)界的操作簡便和分析功能強大

優(yōu)化的用戶界面大大簡化測量和數(shù)據(jù)分析過程，從而提高儀器和操作者效率
的可視化操作工具為用戶提供易于學習和使用的數(shù)據(jù)分析選項
用戶可自行設置數(shù)據(jù)輸出的界面
三十年技術(shù)創(chuàng)新，迎來第十代全新產(chǎn)品
我們的干涉儀是一個包含了的垂直掃描干涉技術(shù)（VSI模式），掃描頭傾斜調(diào)整，的自動校準和雙LED照明等革新技術(shù)。
ContourGT系列既結(jié)合了這些已被證實的設計功能，又在硬件上進行了大量的改進，從而給用戶提供了目前精確的、重復性光學輪廓儀性能。 Bruker的光學輪廓儀具有已被證實的，將近三十年的*性能運行跟蹤記錄，從研究型實驗室到生產(chǎn)型工廠的上萬臺安裝記錄。
- 的震動隔離性能*
ContourGT-X光學輪廓儀配備有一體式的氣動平臺和雙層金屬鑄件，此兩種設計都是為了隔離震動以避免干擾測量效果，從而獲得快速、精確的、可通過GRR測試的測量結(jié)果。
- 光學計量模塊(OMM)
OMM結(jié)合了Bruker的雙LED照明光源技術(shù)，在任何樣品任意放大倍數(shù)下均可提供的照明強度和均勻性。OMM還能在整個10mm測量量程內(nèi)提供無以倫比的準確性和可重復性。馬達驅(qū)動的多放大倍率檢測器可包含三個視場目鏡，以放大倍率的靈活性和穩(wěn)定性。
- 自校準功能*
ContourGT系列可選擇型號中，具有包含Bruker技術(shù)的內(nèi)置一級標準自校準功能的能力，使得閉環(huán)掃描的性能。此模塊包含一個參考信號，在儀器啟動時對系統(tǒng)進行自校準，然后連續(xù)監(jiān)控并校正每次測量，以保證的精確度和的重復性。
- 傾斜調(diào)整支架*
Bruker的傾斜調(diào)整支架設計可使得OMM傾斜，而不是樣品傾斜。這樣，被測量的樣品將總處于聚焦位置，并且在測量的視野中，確保了操作的一致性和簡易性。
*這些選項僅在ContourGT-X3和/ContourGT X8型號上具有。
- 自動樣品臺
在ContourGT-X型號中具有全自動的8英寸或12英寸樣品臺。兩種樣品臺均配備有0.5um重復性的編碼器。ContourGT-K1型具有可選的6英寸馬達驅(qū)動樣品臺。還可選配具有Z方向聚焦旋鈕的XY操縱桿。
- 塔臺
選配的馬達驅(qū)動塔臺可安裝最多4個干涉物鏡，從1倍至100倍。塔臺設計確保了當您切換物鏡時，您的測試點始終處于聚焦和中心位置。
- 輔助操作燈泡*
在防震臺的后面配備有一個LED光源以幫助樣品聚焦和確保操作可觀度。