污水處理設(shè)備 污泥處理設(shè)備 水處理過濾器 軟化水設(shè)備/除鹽設(shè)備 純凈水設(shè)備 消毒設(shè)備|加藥設(shè)備 供水/儲(chǔ)水/集水/排水/輔助 水處理膜 過濾器濾芯 水處理濾料 水處理劑 水處理填料 其它水處理設(shè)備
北京北信科遠(yuǎn)儀器有限責(zé)任公司
會(huì)員1.png)
北京北信科遠(yuǎn)儀器有限責(zé)任公司
| 參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)
品 牌
廠商性質(zhì)其他
所 在 地
聯(lián)系方式：劉華查看聯(lián)系方式
更新時(shí)間：2023-03-01 17:49:39瀏覽次數(shù)：268次
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來自 環(huán)保在線BX-G105 自動(dòng)橢圓偏振測厚儀是基于消光法（或稱“零橢偏"）測量原理，針對(duì)納米薄膜厚度測量領(lǐng)域推出的一款自動(dòng)測量型教學(xué)儀器。BX-G105儀器適用于納米薄膜的厚度測量，以及納米薄膜的厚度和折射率同時(shí)測量。 BX-G105儀器還可用于同時(shí)測量塊狀材料（如，金屬、半導(dǎo)體、介質(zhì)）的折射率n和消光系數(shù)k。
產(chǎn)品用途：
BX-G105 自動(dòng)橢圓偏振測厚儀是基于消光法（或稱“零橢偏”）測量原理，針對(duì)納米薄膜厚度測量領(lǐng)域推出的一款自動(dòng)測量型教學(xué)儀器。BX-G105儀器適用于納米薄膜的厚度測量，以及納米薄膜的厚度和折射率同時(shí)測量。 BX-G105儀器還可用于同時(shí)測量塊狀材料（如，金屬、半導(dǎo)體、介質(zhì)）的折射率n和消光系數(shù)k。
儀器特點(diǎn)：
1. 經(jīng)典消光法橢偏測量原理：儀器采用消光法橢偏測量原理，易于操作者理解和掌握橢偏測量基本原理和過程
2. 方便樣品水平放置方式：才用水平放置樣品的方式，方便樣品的取放
3. 緊湊的一體化結(jié)構(gòu)：集成一體化設(shè)計(jì)，簡潔的儀器外形通過USB接口與計(jì)算機(jī)相連，方便儀器使用
4. 高準(zhǔn)確性的激光光源：采用激光作為探測光波，測量波長準(zhǔn)確度高
5. 豐富實(shí)用的樣品測量功能：可測量納米薄膜的膜厚和折射率、塊狀材料的復(fù)折射率等
6. 便捷的自動(dòng)化操作：儀器軟件可自動(dòng)完成樣品測量，并可進(jìn)行方便的測量數(shù)據(jù)分析、儀器校準(zhǔn)等操作
7. 用戶使用權(quán)限管理：軟件中設(shè)置了用戶使用權(quán)限（包括：管理員、操作者等模式），便于儀器管理和使用
8. 可擴(kuò)展的儀器功能上：利用本儀器，可通過適當(dāng)擴(kuò)展，完成多項(xiàng)偏振測量實(shí)驗(yàn)，如馬呂斯定律實(shí)驗(yàn)、旋光測量實(shí)驗(yàn)、旋光等
您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
Semiconsoft薄膜厚度測量系統(tǒng)MProbe Vis
MProbe Vis 面議環(huán)保在線 設(shè)計(jì)制作，未經(jīng)允許翻錄必究 .? ? ?
請(qǐng)輸入賬號(hào)
請(qǐng)輸入密碼
請(qǐng)輸驗(yàn)證碼
