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Zetasizer Ultra 納米粒度電位儀

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更新時間：2023-02-15 11:31:46瀏覽次數(shù)：423次

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產(chǎn)品簡介

充滿信心地邁步向前全新ZetasizerUltra是用于執(zhí)行顆粒與分子粒度、顆粒電荷和顆粒濃度的系統(tǒng)，是整個Zetasizer系列中最智能、靈活度的儀器

詳細介紹

充滿信心地邁步向前

全新 Zetasizer Ultra 是用于執(zhí)行顆粒與分子粒度、顆粒電荷和顆粒濃度的系統(tǒng)，是整個 Zetasizer 系列中最智能、靈活度的儀器。

這一旗艦型儀器充分利用了 ZS Xplorer 軟件的易用性、分析速度和數(shù)據(jù)可靠性等優(yōu)勢，并且提供了兩種的測量功能：多角動態(tài)光散射 (MADLS®) 和顆粒濃度，從而幫助您更深入地了解樣品。

概述

Zetasizer Ultra 綜合了功能大的 DLS 與 ELS 系統(tǒng)，它采用了非侵入背散射 (NIBS®) 和的多角動態(tài)光散射 (MADLS) 技術(shù)來測量顆粒與分子粒度。NIBS 的多用性和靈敏度可測量廣泛的濃度范圍，而 MADLS 則能讓您在這些關(guān)鍵測量當中更精細地了解樣品粒度分布。

MADLS 的擴展能夠直接分析顆粒濃度。顆粒濃度的測量無需校準，適合于廣泛的材料，無需或只需極少稀釋，并且使用快捷，這一切都使其成為一種理想的篩選技術(shù)。這是 Zetasizer Ultra 的一項功能，甚至可以運用于以前非常難測量的病毒和 VLP 等樣品。

Zetasizer Ultra 還利用 M3-PALS 技術(shù)提供了靈敏度的電動電勢和電泳遷移率測量。我們具有性價比的一次性折疊毛細管樣品池允許使用我們的擴散障礙法在極低樣品量的情況下進行測量，并且不會產(chǎn)生直接樣品電極接觸。此類測量提供的信息可以地指出樣品穩(wěn)定性以及/或者聚集傾向。

增加的恒流模式可在高導(dǎo)電性介質(zhì)中測量電泳遷移率和電動電勢，從而減少由于較高離子濃度下的電極極化而出現(xiàn)的錯誤。

工作原理

Zetasizer Ultra 在一種緊湊型裝置中包含了兩種技術(shù)，并且擁有一系列選件及附件，以便優(yōu)化并簡化不同樣品類型的測量。

動態(tài)光散射法(DLS)用于測量粒度及分子大小。DLS 可測量作布郎運動顆粒的擴散情況，并采用斯托克斯-愛因斯坦方程將其轉(zhuǎn)化為顆粒粒度與粒度分布。使用的非侵入式背散射 (NIBS) 技術(shù)可在泛的粒度及濃度范圍內(nèi)實現(xiàn)的靈敏度。DLS 是一種靈活性的顆粒測量方法，具有快速、準確、可重復(fù)的特點。它只需要少量的樣品即可完成分析，并且可做到無損。這種技術(shù)不考慮材料因素，因此具有極廣泛的適用性。

Zetasizer Ultra 還采用了多角動態(tài)光散射法 (MADLS)，可提供分辨率、不受角度影響的粒度分布分析。MADLS 還允許在均質(zhì)樣品類型中對顆粒濃度進行簡單且無需校準的測量，這一應(yīng)用可涵蓋廣泛材料。

電泳光散射法 (ELS)用于測量電動電勢。分子和顆粒在施加的電場作用下做電泳運動，其運動速度與電荷直接相關(guān) 使用型激光相干技術(shù) M3-PALS(相位分析光散射法)檢測其速率。這樣即可計算電泳遷移率，并得出樣品的電動電勢及電動電勢分布。

ELS 的運用一般關(guān)系到穩(wěn)定性和配方應(yīng)用。不帶凈電荷的顆粒或分子可能會粘合在一起，可能會是系統(tǒng)遇到的一種困難(例如可能是附聚物的配方)。不帶凈正極或凈負極電荷的顆?；蚍肿訉⒏玫乇舜吮３志嚯x，從而形成穩(wěn)定的系統(tǒng)。包含這些顆粒或分子的配方極易受其電荷態(tài)的影響，對 pH 值、添加劑濃度和離子濃度等配方屬性的變更可能會影響產(chǎn)品穩(wěn)定性和儲存期。

ZS Xplorer 軟件套件

該軟件的設(shè)計非常簡單易用，即使是在復(fù)雜方法的快速構(gòu)建中也同樣如此。關(guān)于要測量的樣品、其條件以及變量的信息在運行開始時輸入，并且 ZS Xplorer 將根據(jù)這些信息對用于該樣品的方法進行智能優(yōu)化。由深度學(xué)習支持的數(shù)據(jù)質(zhì)量指導(dǎo)系統(tǒng)可提供關(guān)于結(jié)果的反饋，并針對如何對數(shù)據(jù)進行必要的改進提出清晰的建議。

選件

MPT-3 自動滴定儀可幫助研究 pH 值變化的影響。

一系列一次性和可重復(fù)使用的樣品池可優(yōu)化測量不同樣品體積和濃度，包括新的低量一次性粒度測量樣品池套件，由于它可以抑制對流，所以既能測量小到 3uL 的粒度，也能測量 DLS 的上限粒度范圍。

技術(shù)指標