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GCSTD-A/B介電常數(shù)測(cè)定儀

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

介電常數(shù)測(cè)定儀的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試。它以單片計(jì)算機(jī)作為儀器的控制，測(cè)量核心采用了頻率數(shù)字鎖定，標(biāo)準(zhǔn)頻率測(cè)試點(diǎn)自動(dòng)設(shè)定，諧振點(diǎn)自動(dòng)搜索，Q值量程自動(dòng)轉(zhuǎn)換，數(shù)值顯示等新技術(shù)，改進(jìn)了調(diào)諧回路，使得調(diào)諧測(cè)試回路的殘余電感減至低，并保留了原Q表中自動(dòng)穩(wěn)幅等技術(shù)，使得新儀器在使用時(shí)更為方便，測(cè)量值更為精確。

詳細(xì)介紹

GCSTD-A/B介電常數(shù)測(cè)定儀的詳細(xì)資料：

滿足標(biāo)準(zhǔn)：

GBT 1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長(zhǎng)在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法

GB/T1693-2007 硫化橡膠介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)定方法

ASTM D150/IEC 60250固體電絕緣材料的(恒久電介質(zhì))的交流損耗特性和介電常數(shù)的測(cè)試方法

方法概述

介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復(fù)合材料等的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì)，通過(guò)測(cè)定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)（ε），可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)；儀器的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試。它以單片計(jì)算機(jī)作為儀器的控制，測(cè)量核心采用了頻率數(shù)字鎖定，標(biāo)準(zhǔn)頻率測(cè)試點(diǎn)自動(dòng)設(shè)定，諧振點(diǎn)自動(dòng)搜索，Q值量程自動(dòng)轉(zhuǎn)換，數(shù)值顯示等新技術(shù)，改進(jìn)了調(diào)諧回路，使得調(diào)諧測(cè)試回路的殘余電感減至*低，并保留了原Q表中自動(dòng)穩(wěn)幅等技術(shù)，使得新儀器在使用時(shí)更為方便，測(cè)量值更為精確。儀器能在較高的測(cè)試頻率條件下，測(cè)量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。

電極規(guī)格

固體：材料測(cè)量直徑Φ38mm 可選；厚度可調(diào) ≥ 15mm

液體：測(cè)量極片直徑 Φ38mm；液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm（選配）

粉體：測(cè)量極片直徑 Φ38mm；液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm（選配）

試樣要求：固體樣品厚度要求：0.5-15MM

若溫差大于5C,試樣從預(yù)處理環(huán)境中取出后，應(yīng)在10s內(nèi)完成沖擊，8.2若超過(guò)上述規(guī)定的時(shí)間，但超過(guò)的時(shí)間不大于60私則可立即在預(yù)處理溫度下對(duì)試樣進(jìn)行再處理至少5min,并按8.1重新測(cè)試。

否則應(yīng)放棄該試樣或按本標(biāo)準(zhǔn)第6章規(guī)定對(duì)試樣重新進(jìn)行預(yù)處理。8-3沖擊后檢査試樣破壞情況，記下斷裂或龜裂情況。如有需要可記錄相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的其他破壞現(xiàn)象。8-4重復(fù)試驗(yàn)步驟8?1?8.3,直到完成規(guī)定數(shù)目的試樣

介電常數(shù)測(cè)定儀

關(guān)鍵詞：介電常數(shù)測(cè)定儀絕緣材料電容器

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