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束蘊儀器（上海）有限公司
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更新時間：2024-04-29 09:53:13瀏覽次數(shù)：152次
聯(lián)系我時，請告知來自 環(huán)保在線ModuLab XM MTS 材料電特性測試系統(tǒng)
產(chǎn)品介紹
ModuLab XM MTS系統(tǒng)設(shè)計的目的是檢驗由絕緣體至超導(dǎo)體的幾乎任何類型的材料，包括:
該材料可以是固體，液體或粉末，可使用加熱到>1600℃高溫爐或冷卻到接近零度的低溫系統(tǒng)。使用時間域，阻抗和溫度測試大多數(shù)材料均可獲得性能表征。 對于如何用Solartron的系統(tǒng)測試這些材料可以在Solartron的網(wǎng)站上檢索得到應(yīng)用案例：/stacksofapps/
陶瓷
陶瓷經(jīng)常用于高溫及絕緣領(lǐng)域，特別是航天渦輪扇葉、宇宙飛船的材料片、引擎噴嘴、傳感器、盤狀剎車等。MTS系統(tǒng)的高電壓、高溫和低電流模塊的提供了陶瓷材料的測試環(huán)境。
MTS多種選項：
聚合物
MTS系統(tǒng)可用于測量聚合物的電性能，如電纜絕緣材料、顯示屏基質(zhì)材料、半導(dǎo)體低K介電材料、導(dǎo)電聚合物、塑料涂層等。 阻抗測試廣泛應(yīng)用于聚合物介電特性的測試。
MTS多種選項：
納米材料
新型納米材料參雜于現(xiàn)有的陶瓷、聚合物等材料中，制造出具有優(yōu)異的機械、電氣及熱特性的復(fù)合材料。MTS系統(tǒng)的多功能性及模塊性結(jié)構(gòu)是測試這些新型材料電性能的之選。
MTS多種選項：
太陽能電池
太陽能電池以其來源于太陽的以及廉價的特點成為傳統(tǒng)燃料的替代。MTS系統(tǒng)集成I-V特性（評估功率/轉(zhuǎn)換效率）及阻抗/C-V特性（確定載流子密度和遷移率）測量為一體，簡化了測試程序，降低了投入成本。
MTS多種選項：
超導(dǎo)體
超導(dǎo)體是指在一個臨界溫度以下具有零電阻的材料，它們廣泛用于電磁體、如MRI、NMI與質(zhì)譜儀；MTS系統(tǒng)的超低阻抗測試特點和精確的溫控附件是測量超導(dǎo)材料的必選。 既能精確控制溫度，又能測量超低阻抗，是對這類材料測試的要求。
MTS多種選項：
顯示材料
新型顯示技術(shù)，如OLED及AMOLED,為手提電腦、手機及薄屏電視提供了更大的發(fā)展?jié)摿Α?/span>MTS系統(tǒng)為該類產(chǎn)品提供了多種測試方法，如脈沖（顯示保持/Flicker測試）、I-V.C-V及阻抗測試。
MTS多種選項：
半導(dǎo)體
半導(dǎo)體材料的電阻率因隨周圍的電場變化而變化，被廣泛應(yīng)用于PC、整流器、太陽能電池、放大器等。MTS系統(tǒng)的AC與時域測量功能包括I-V、C-V、溫度控制及寬泛的電壓、電流范圍為研究者提供了極大的方便。
MTS多種選項：
介電材料
鐵電材料（常用于電子應(yīng)用， 如PC內(nèi)存）、壓電材料、陶瓷、聚合物、油品、玻璃以及粘土都屬于介電材料（絕緣體）。MTS系統(tǒng)的高電壓、杰出的電流分辨率及高精度非常適用于測量此類介電材料的電性能。
MTS多種選項：
生物材料
利用時域及AC測量技術(shù)，MTS系統(tǒng)可用于各種生物材料、成活、科研植入材料、血液、病毒或組織細(xì)胞以及藥物在體內(nèi)傳輸?shù)臏y量。 雖然不能直接和生物活體相連接，但是廣泛應(yīng)用于體外測試。
MTS多種選項：
儀器配置
| MAT核心模塊 | 模塊 |
| 核心MAT模塊使用的數(shù)字信號處理器（DSP），能精準(zhǔn)地進行控制和測量。
| MAT 1MHz |
| MFRA頻率響應(yīng)模塊 | |
| 阻抗、導(dǎo)納、電模數(shù)、C-V、Mott-Schottky、介電常數(shù)分析，整個頻率范圍（10 μHz to 1 MHz）內(nèi)采用多種測量技術(shù)，MTS均可完成。
多正弦/快速傅立葉轉(zhuǎn)換(FFT)測量是如此快速，因此可經(jīng)常在樣品體系改變響應(yīng)之前完成。
| MFRA 1MHz (10μH z~1MHz) |
| MHV100V高電壓選項 | |
| 標(biāo)準(zhǔn)的MAT核心模塊能提供高達±8V的掃描電壓值，對于很多應(yīng)用，高電壓也是必須的，如在高阻抗絕緣材料情況下。 MAT和MHV選項可以提供±100 V 范圍內(nèi)超平滑的掃描電壓、I-V、DC、脈沖測試。自動衰減樣品電壓以滿足MAT核心模塊測量的要求。 MHV能同樣提供峰值為100V的AC峰形，用于樣品阻抗測試，DC及AC信號可以結(jié)合用于高壓的C-V、Mott-Schottky、電容及阻抗測試。 | MHV 100 (100V) |
| MREF 樣品/參比選項 | |
| MREF可以提高電介質(zhì)樣品的AC阻抗的測量精度。電容標(biāo)樣可以測量系統(tǒng)誤差。 MREF樣品/參比選項通過先測量樣品，再測量一個已知標(biāo)定過的與參比有相似阻抗值的電容，使用驗證過的電纜來提高電介質(zhì)材料AC測量的準(zhǔn)確度。 參比電容的測量提供準(zhǔn)確測量值，消除在樣品測量中由于連接電纜，測量回路所帶來的系統(tǒng)誤差，多個標(biāo)定的內(nèi)部參比電容可供選擇用于匹配各類樣品阻抗，如需要，用戶可以采用外部參考模式，使用外部參比電容。 | MREF |
| MFA小電流選項(Femto安培計) | |
| 標(biāo)準(zhǔn)MAT核心模塊能夠達到1pA電流分辨率，這個分辨率對于許多材料測試已足夠。但對于高阻抗材料，如絕緣體、介電材料、陶瓷、納米材料（碳納米管）、半導(dǎo)體材料等，可能需要更為靈敏的電流測量精度。 fA電流測量選項MFA是設(shè)計用于解決極小電流(150aA)分析。也可結(jié)合與MHV高壓選項使用，以測量阻抗材料(>100TΩ )；也可以與MREF結(jié)合提高材料測試精度和重現(xiàn)性。 | MFA |
| MBST-2A 電流放大器選項 | |
| MAT核心模塊提供的標(biāo)準(zhǔn)電流范圍是±100 mA. 對于超導(dǎo)體或半導(dǎo)體測試，如需要更大的電流可通過選購2A內(nèi)置電流放大器。 MBST選項提供高達±2A的電流輸出，這使得測量樣品上的壓降更為簡便，提供阻抗分辨率達10μΩ。 | MBST-2A |
| 主機插槽選項 | |
| 根據(jù)不同的模塊個數(shù)，按照預(yù)算選擇合適的主機箱。 | Chas 08 、Chas 04 |
| 附件及樣品支架 | |
| 5K-600K低溫系統(tǒng)（含樣品支架及溫度控制器） | 129610A |
| 室溫固體樣品支架，設(shè)計用于中溫范圍，測試固體材料。樣品架可以采用2端或4端模式來測試高阻抗或低阻抗樣品。 | 12962A |
| 電極連接附件（10,30,40mm直徑）與12962A配套使用 | 12963A |
| 液體樣品支架 | 12964A |
| 高溫爐 用于離子導(dǎo)體，固體氧化物和固體電解質(zhì) |
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| 高壓放大器 為滿足10KV電壓測試，外接放大器，配合內(nèi)部100V電壓測量，實現(xiàn)對外部樣品高壓測量。 |
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| 探針臺 可與非低溫及低溫探針臺聯(lián)用，實現(xiàn)5K-475K的測量 |
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| 軟件 | |
| 系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)配置軟件 | Modulab MTS 軟件 |
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