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上海玖橫儀器有限公司
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S291熒光亮度計是嚴格按照標準 AMS 2644, ASTM E 1417的要求測量熒光滲透劑的熒光亮度,S291熒光亮度計也滿足ASTM E 1135 和 EN 571-2 等標準的要求,是目前機構(gòu)認證的檢測熒光滲透劑的熒光亮度的儀器。
上海玖橫儀器有限公司是一家專業(yè)從事儀器儀表研發(fā)、生產(chǎn)、銷售及服務(wù)的企業(yè)。超聲波探傷儀：（EPOCH 600超聲探傷儀、EPOCH 6LT超聲探傷儀、EPOCH 650超聲探傷儀、EPOCH 1000超聲探傷儀、USM 36超聲探傷儀、USN 60超聲探傷儀、USM go+超聲探傷儀、Ominscan SX相控陣探傷儀、OmniScan MX2相控陣TOFD探傷儀，新款OmniScan MX3全聚焦相控陣超聲波探傷儀）；超聲波測厚儀：（27MG超聲波測厚儀、45MG超聲波測厚儀、38DL PLUS超聲波測厚儀、DM5E超聲波測厚儀、CL5超聲波測厚儀、MAGNA-MIKE 8600霍爾效應(yīng)測厚儀，ETG-100電磁高溫測厚儀）；超聲波探頭；定制相控陣探頭；渦流探傷儀：（NORTEC 600渦流探傷儀）；硬度計；DR平板探測器：1313DX ，1515DXT-I ，2520DX ，2530HE，4343HE， Dexela 1207 ，Dexela 1313 ，Dexela 2121S ，Dexela CMOS平板探測器 ，XRD 0822 ，XRD 1611 ，XRD 1621 ，XRD 4343RF ，XRD 3025 ，XRpad 4336 ，XRpad 4343 F ，XRpad2 3025 ，XRpad2 4336。內(nèi)窺鏡：（IPLEX NX奧林巴斯內(nèi)窺鏡、IPLEX GX/GT奧林巴斯內(nèi)窺鏡、IPLEX G Lite奧林巴斯內(nèi)窺鏡、IPLEX TX奧林巴斯內(nèi)窺鏡、IPLEX YS奧林巴斯內(nèi)窺鏡、XLGo+工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡GE、XL Detect+工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡GE新款、UVin專業(yè)紫外視頻內(nèi)窺鏡、）；脈沖發(fā)生器：（DRP300替代奧林巴斯的5072PR,5073PR）；合金分析儀：(Vanta奧林巴斯手持式合金分析儀、DELTA Professional手持式合金分析儀奧林巴斯、DELTA Element手持式合金分析儀奧林巴斯)等儀器儀表
S291熒光亮度計是嚴格按照標準 AMS 2644, ASTM E 1417的要求測量熒光滲透劑的熒光亮度,S291也滿足ASTM E 1135 和 EN 571-2 等標準的要求,是目前機構(gòu)認證的檢測熒光滲透劑的熒光亮度的儀器。
S291熒光亮度計
數(shù)字顯示 | LED 000-999 |
漂移 | 微小可忽略 |
燈 | UV 燈，4W，365nm |
初級和二級濾光器 | 符合規(guī)范要求 |
歸零和校準 | 靈敏的電位計，連續(xù)可調(diào)（10 圈） |
電源 | 230V/50Hz，30VA |
尺寸 | 260mm×210mm×130mm |
重量 | 3kg |
反射樣品架 | 符合規(guī)范要求 |
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