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BA-100 Optics 臺式X射線熒光（XRF）鍍層測厚儀

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更新時間：2023-02-03 09:49:56瀏覽次數(shù)：205次

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產品簡介

BA-100 Optics 臺式X射線熒光（XRF）鍍層測厚儀

詳細介紹

美國博曼（Bowman） BA-100 Optics 臺式X射線熒光（XRF）鍍層測厚儀

產品描述：

美國博曼（Bowman） BA-100 Optics 臺式X射線熒光（XRF）鍍層測厚儀——為您提供高精度、快速簡便的鍍層厚度測量、元素分析，以及電鍍液分析。

Bowman BA-100 Optics 機型采用業(yè)界的多孔毛細管光學聚焦裝置，有效縮小測量點斑點的同時，可數(shù)倍乃至數(shù)十倍提高X射線激發(fā)強度。

Bowman BA-100 Optics 機型配備大面積的SDD（硅漂移探測器），有效拓展元素分析范圍，適應的微區(qū)、超薄鍍層，以及痕量元素分析需求。

優(yōu)秀的測試性能、突出的微區(qū)測量能力，Bowman BA-100 Optics機型是研究開發(fā)、質量管控的XRF鍍層厚度及元素成分分析儀器。

穩(wěn)定的X射線管

? 微聚焦50瓦Mo靶射線管（其它靶材可選）; 小

于100um的測量斑點

? 射線出射點預置于射線管Be窗正

? 長壽命的射線管燈絲

? 的預熱和ISO溫度適應程序

多毛細管聚焦光學結構

? 顯著提高X射線信號強度

? 獲得較準直器機型數(shù)倍乃至數(shù)十倍的信號強度

? 小于100um直徑的測量斑點

? 經過驗證，接近的測量精度

應用領域：

常見的鍍層應用:

PCB行業(yè)
Au/Pd/Ni/Cu/PCB

引線框架
Ag/Cu
Au/Pd/Ni/CuFe

半導體行業(yè)
Pd/Ni/Cu/Ti/Si-晶元基材
Au/Pd/Ni/Cu/Si晶元基材

線材
Sn/Cu

珠寶、貴金屬
10,14,18Kt

元素分析、合金分類、雜質分析、溶液分析、電鍍液分析等