型靈敏度試片Z先由日本無損檢測學(xué)會提出，以后為多個國家使用，主要用于零部件的磁粉探傷，在檢查中，對幾何形狀復(fù)雜，不同材質(zhì)的工作，可以正確地選擇磁化規(guī)范，并可檢查探傷設(shè)備，磁粉和磁懸液的性能，在磁粉探傷操作過程中，可以避免漏檢，正確地知道探傷工作所需的電流峰值和方向，并對顯示缺陷的磁場強(qiáng)度有所估量A型靈敏度試片是磁粉探傷工作者*的調(diào)試工具。

詳細(xì)介紹

C型磁粉探傷標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片
C型靈敏度試片zui先由日本無損檢測學(xué)會提出，以后為多個國家使用，主要用于零部件的磁粉探傷，在檢查中，對幾何形狀復(fù)雜，不同材質(zhì)的工作，可以正確地選擇磁化規(guī)范，并可檢查探傷設(shè)備，磁粉和磁懸液的性能，在磁粉探傷操作過程中，可以避免漏檢，正確地知道探傷工作所需的電流峰值和方向，并對顯示缺陷的磁場強(qiáng)度有所估量A型靈敏度試片是磁粉探傷工作者*的調(diào)試工具。

特點(diǎn)：
試片用于磁粉顯示，圖象直觀，使用簡便。對各類零件所有方向的磁場，尤其檢查部位狹小、形狀復(fù)雜的零件時(shí)，表現(xiàn)其*的優(yōu)點(diǎn)。
性能規(guī)格：
我公司生產(chǎn)的C型標(biāo)準(zhǔn)試片，是一種消耗的調(diào)整磁粉探傷靈敏度試片，它分為C1型和C2型，它可以在任何幾何形狀復(fù)雜的工件上探傷，尤其在焊縫的坡口面上及狹小部分，更能顯示它的優(yōu)點(diǎn)。 C型標(biāo)準(zhǔn)試片相當(dāng)于A型試片中2#試片的靈敏度等同，它的磁化規(guī)范相當(dāng)于8-10D，并可用作鑒定探傷設(shè)備、磁粉和磁懸液的性能，在磁粉探傷過程中，可以避免誤判或漏檢。C型標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片，是磁粉探傷工作者*的調(diào)試工具。
本套試片包括：C1：8/50μ C2：15/50μ 共六片，分兩組不同規(guī)格的試片組成

使用方法：
1、使用C1型時(shí)，沿者分割線，剪開為5x10mm的小片，使用適當(dāng)?shù)碾p面膠帶，或者膠粘劑貼于試樣表面（雙面膠帶厚度要小于100μm）。
2、使用連續(xù)法，顯示磁痕，即是工件所需靈敏度。
3、使用C2型試片時(shí)，剪開C字為正，也可不剪開，以缺口為磁場方向，顯示痕跡，即是工件所需靈敏度。上述步驟完畢后，貼在工件表面上的試片，即可清楚顯示磁痕。