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能量色散型X射線熒光分析裝置EDX-GP

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具體成交價以合同協(xié)議為準

產品型號EDX-GP

品       牌

廠商性質其他

所  在  地

聯(lián)系方式:盛先生查看聯(lián)系方式

更新時間:2024-02-14 15:37:26瀏覽次數(shù):206次

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聯(lián)系人:盛先生

產品簡介

EDX-GP是Z適合用于RoHS/ELV/無鹵素法規(guī)限制的有害元素篩選分析的X射線熒光分析裝置。*次使用,也能輕松操作,操作簡便且以更高的精度進行微量分析,達到Z高靈敏度與Z佳分辨率的*結合。標準配置RoHS/ELV/無鹵素分析所需的所有必要功能,用戶無需購買特殊選購件,使可以獲得Z佳RoHS/ELV/無鹵素分析系統(tǒng) 。

詳細介紹

產品介紹

本裝置配置了RoHS/ELV檢測中zui高的EDX-720型的半導體檢測器、濾光片及高計數(shù)率電路。
 
 
為什么需要高靈敏度?
能夠測定更微量的元素。 測定時間更短,因此相同時間內測定數(shù)量更多。
 
■鹵素系列阻燃劑中微量Cd
〔keV〕
 
 
為什么需要高分辨率?
可以減輕目標元素附近的其他共存元素的重疊影響。
 
■ 鹵素系列阻燃劑中微量Pb
〔keV〕
 
 
為什么需要高精度?

在IEC提出的合格判定中,分析裝置的重現(xiàn)性對判定結果有很大的影響,重現(xiàn)性越好(即測定精度越高),合格判定的準確度就越高。

 

利用濾光片提高靈敏度/還可以進行高靈敏度的無鹵素分析

標準配備了5種濾光片,可降低、除去形成背景成分的X射線管的散射線,提高檢測靈敏度。

本裝置在RoHS/ELV/無鹵素分析中會自動選擇3種zui合適的濾光片,進行高靈敏度測定?!?/td>
 
受X射線管Rh的特征X射線影響的Cl也可以測定
 微量成分:Cl(除去特征X射線)

利用濾光片提高檢測靈敏度

微量成分:Pb(背景降低)

 
 

濾光片條件靈活,滿足客戶要求

如果您希望在短時間內對多個樣品進行測定,推薦使用單個濾光片進行高速分析。
 

<由單個濾光片進行高速分析> 測定時間:100秒

如果您希望對微量元素進行高靈敏測定,可以選擇各種濾光片進行高靈敏度分析。
與單個濾光片高速分析相比,靈敏度約提高2~3倍。

 

<由濾光片進行高靈敏度分析>
測定時間:300秒(100秒×3通道)


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