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二次離子質(zhì)譜探針

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更新時間：2024-02-02 13:49:08瀏覽次數(shù)：160次

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產(chǎn)品簡介

The Hiden MAXIM quadrupole SIMS analyser is a state of the art secondary ion mass spectrometer for positive and negative, static, dynamic and neutral analytical applications.

詳細介紹

EQS 是差式泵式二次離子質(zhì)譜（SIMS-Secondary Ion Mass Spectrometer ‘Bolt-On’ probe），可分析來自固體樣品的二次陰、陽離子和中性粒子。采用的SIMS 探針，便于連結到現(xiàn)有的UHV表面科學研究反應室。

 

·光柵控制，增強深度分析能力
·所有能量范圍內(nèi)，離子行程的最小擾動，及恒定離子傳輸
·靈敏度高 / 穩(wěn)定的脈沖離子計數(shù)檢測器




 

·質(zhì)量數(shù)范圍：   300amu，500amu，1000amu

·檢測器：         離子計數(shù)探測器、正負離子探測器、107 cps

·質(zhì)量過濾器：   3F四級桿

·桿直徑：         9mm

·加熱：      250℃

·離子源：         電子轟擊，可用于SNMS和RGA的單根燈絲

MAXIM - Quadrupole SIMS Analyser (562 KB)

AP0088 - Metal-Carbon Composites and Multilayer Thin Films Prepared by Plasma Assisted Sequential Deposition (293 KB)

AP0128 - Magnesium Nitride Phase Formation Through New Ion Beam Implantation Technique (406 KB)

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