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秦思肯Tescan FERA3 XM 掃描電子顯微鏡

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更新時(shí)間：2022-12-06 15:05:42瀏覽次數(shù)：187次

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秦思肯Tescan FERA3 XM 掃描電子顯微鏡是一款由計(jì)算機(jī)全控制的Xe等離子聚焦離子束（i-FIB）場發(fā)射掃描電子顯微鏡，秦思肯Tescan FERA3 XM 掃描電子顯微鏡可選配氣體注入系統(tǒng) (GIS)，可在高真空和低真空模式下工作，其具有突出的光學(xué)性能、清晰的數(shù)字化圖像、成熟和用戶界面友好的SEM/FIB/GIS操作軟件等特點(diǎn)?；赪indows™平臺(tái)的操作軟件提供了簡易的電鏡操作和圖像采集，秦思肯Tescan FERA3 XM 掃描電子顯微鏡可以保存標(biāo)準(zhǔn)文件格式的圖片，可以對圖像進(jìn)行管理、處理和測量，實(shí)現(xiàn)了電鏡的自動(dòng)設(shè)置和許多其它自動(dòng)操作。

秦思肯Tescan FERA3 XM 掃描電子顯微鏡分析潛力：高亮度肖特基發(fā)射可獲得高分辨率，高電流和低噪聲的圖像；選配的In-Beam二次電子探頭可獲取超高分辨率圖像；三透鏡大視野觀察（Wide Field Optics™）設(shè)計(jì)提供了多種工作模式和顯示模式，體現(xiàn)了TESCAN*可優(yōu)化電子束光闌的中間鏡設(shè)計(jì)；結(jié)合了完善的電子光學(xué)設(shè)計(jì)軟件的實(shí)時(shí)電子束追蹤（In-Flight Beam Tracing™）可模擬和進(jìn)行束斑優(yōu)化；成像速度快；低電壓下的電子束減速模式（Beam Deceleration Technology – BDT）可獲取高分辨率圖像（選配）；In-Beam背散射電子探頭，用于在小工作距離下得BSE圖像（選配），甚至適合鐵磁性樣品；全計(jì)算機(jī)化優(yōu)中心電動(dòng)載臺(tái)設(shè)計(jì)優(yōu)化了樣品操控；的幾何設(shè)計(jì)更適合安裝能譜儀（EDX）、波譜儀（WDX）、背散射電子衍射儀（EBSD）；由于使用了強(qiáng)力的渦淪分子泵和干式前置真空泵，因而可以很快達(dá)到電鏡的工作真空。電子槍的真空由離子泵維持。自動(dòng)的電子光路設(shè)置和合軸；網(wǎng)絡(luò)操作和內(nèi)置的遠(yuǎn)程控制/診斷軟件；3維電子束技術(shù)提供實(shí)時(shí)立體圖像；低真空模式下樣品室真空可達(dá)到500Pa用于觀測不導(dǎo)電樣品；的離子差異泵（2個(gè)離子泵）使得離子散射效應(yīng)超低；聚焦離子束鏡筒內(nèi)有馬達(dá)驅(qū)動(dòng)高重復(fù)性光闌轉(zhuǎn)換器；聚焦離子束的標(biāo)配包括了電子束遮沒裝置和法拉第筒；高束流下超高的銑削速度和的性能；FIB切割、信號(hào)采集、3維重構(gòu)（斷層攝影術(shù)），3D EBSD、3D EBIC與集成3維可視化。成熟的SEM/FIB/GIS操作軟件，圖像采集、存檔、處理和分析功能。

FERA3配置：FERA3 XMH，是一款由計(jì)算機(jī)控制的Xe等離子聚焦離子束（i-FIB）場發(fā)射掃描電子顯微鏡，可選配氣體注入系統(tǒng)(GIS)，在真空模式下工作。FERA3 XMU，是一款由計(jì)算機(jī)控制的Xe等離子聚焦離子束（i-FIB）場發(fā)射掃描電子顯微鏡，可選配氣體注入系統(tǒng)(GIS)，可在高真空和低真空模式下工作。

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