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北京中航鼎力儀器設(shè)備有限公司
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更新時間：2023-08-31 13:38:58瀏覽次數(shù)：100次
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LJD-C介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀
LJD-C型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀 一、概述： LJD-C型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀作為新一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前國內(nèi)較高的160MHz.LJD-C介電常數(shù)測試儀采用了多項新技術(shù)： 雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動調(diào)諧搜索功能。 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。 雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧，數(shù)碼化電容調(diào)諧。 自動化測量技術(shù) -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。 全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調(diào)電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。 DDS 數(shù)字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真，頻率的準確、幅度的高穩(wěn)定。 計算機自動修正技術(shù)和測試回路化 —使測試回路 殘余電感減至低， Q 讀數(shù)值在不同頻率時要加以修正的困惑。 LJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀的新設(shè)計，無疑為高頻元器件的阻抗測量提供了的解決方案，它給從事高頻電子設(shè)計的工程師、科研人員、高校實驗室和電子制造業(yè)提供了更為方便的檢測工具，測量值更為J確，測量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點調(diào)諧電容值下檢測器件的品質(zhì)，無須關(guān)注量程和換算單位。 二、主要技術(shù)特性： Q 值測量范圍: 2 ～ 1023,量程分檔：30100﹑300﹑1000，自動換檔或手動換檔 固有誤差:≤ 5 ％ ± 滿度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）,≤6％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz） 工作誤差:≤7％ ± 滿度值的2％ （ 200kHz ～ 10MHz ）,≤8％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz） 電感測量范圍: 4.5nH ～ 140mH 電容直接測量范圍: 1 ～ 200pF 主電容調(diào)節(jié)范圍: 18 ～ 220pF 主電容調(diào)節(jié)準確度: 100pF 以下 ± 1pF;100pF 以上 ± 1 ％ 信號源頻率覆蓋范圍: 100kHz ～ 160MHz 頻率分段 （ 虛擬 ）: 100 ～ 999.999kHz, 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz,100 ～ 160MHz 頻率指示誤差 :3 × 10 -5 ± 1 個字 三、夾具工作特性 1.平板電容器： 極片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可選 極片間距可調(diào)范圍：≥15mm 2. 夾具插頭間距：25mm±0.01mm 3. 夾具損耗正切值≤4×10－4 （1MHz） 4．測微桿分辨率：0.001mm 四、配置： 主機一臺 電感九支 夾具一套 隨機文件一套
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