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篤摯儀器（上海）有限公司
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| 參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)Minitest 2100
品 牌
廠商性質(zhì)其他
所 在 地上海市
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更新時(shí)間：2022-12-26 16:25:27瀏覽次數(shù)：149次
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來(lái)自 環(huán)保在線MINITEST 2100測(cè)厚儀，根據(jù)測(cè)頭類型的不同，分別運(yùn)用磁感應(yīng)和渦流原理測(cè)量覆層厚度。MINITEST2100型測(cè)厚儀，是便攜式、無(wú)損、快速、精確測(cè)量覆層厚度的精密儀器。主要應(yīng)用于防腐、電鍍、化工、汽車(chē)、造船、航空、輕工等行業(yè)，適合實(shí)驗(yàn)室、工廠和戶外現(xiàn)場(chǎng)使用。配置不同的測(cè)頭，適用于不同場(chǎng)合。
德國(guó)Elektrophysik（EPK）Minitest 2100測(cè)厚儀-----分別運(yùn)用磁感應(yīng)和渦流原理測(cè)量鋼鐵或非磁性基體上涂層厚度。MINITEST 2100測(cè)厚儀，根據(jù)測(cè)頭類型的不同，分別運(yùn)用磁感應(yīng)和渦流原理測(cè)量覆層厚度。MINITEST2100型測(cè)厚儀，是便攜式、無(wú)損、快速、精確測(cè)量覆層厚度的精密儀器。主要應(yīng)用于防腐、電鍍、化工、汽車(chē)、造船、航空、輕工等行業(yè)，適合實(shí)驗(yàn)室、工廠和戶外現(xiàn)場(chǎng)使用。配置不同的測(cè)頭，適用于不同場(chǎng)合。
功能特征： ----在鋼上測(cè)量時(shí)，MINITEST2100利用電磁感應(yīng)原理，在 ----非鐵磁性基體上測(cè)量時(shí)，基于渦流原理。 ----MINITEST2100型的存儲(chǔ)器陣列可自動(dòng)存儲(chǔ)10,000個(gè)以上讀數(shù)。 ----數(shù)據(jù)可打印和統(tǒng)計(jì)評(píng)估，統(tǒng)計(jì)讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar ----讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar
----鍵盤(pán)控制可轉(zhuǎn)移至PC電腦，使之進(jìn)入自動(dòng)控制網(wǎng)絡(luò)。 ----測(cè)量值和用戶信息顯示在大型液晶顯示器上。 ----弱光時(shí)，顯示器可選背景照明，確保閱讀屏幕數(shù)據(jù)。
MINITEST 2100校準(zhǔn)方式 ： 透過(guò)厚度未知涂層的校準(zhǔn):用箔校準(zhǔn)(僅適用于F06、F1.6、F3、作F用的FN2測(cè)頭,以及F1.6/90、F2/90、F10、F20、F50探頭)。如果被測(cè)樣本在校準(zhǔn)時(shí)，沒(méi)有無(wú)涂層的用于比較的樣本，應(yīng)當(dāng)采用此法校準(zhǔn)。 注意:校準(zhǔn)箔是指所有的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)，包括2mm，5mm，10mm厚的標(biāo)準(zhǔn)板。 MINITEST 2100其他功能： ※在粗糙表面上作平均零校準(zhǔn)
MINITEST1100/2100有以下五種不同的校準(zhǔn)方式： 標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn):適合平整光滑的表面和大致的測(cè)量。例如，低于一點(diǎn)校準(zhǔn)精度要求的場(chǎng)合。 一點(diǎn)校準(zhǔn):置零，不用標(biāo)準(zhǔn)箔。用于允許誤差超過(guò)3%的場(chǎng)合。 二點(diǎn)校準(zhǔn):置零，用一片標(biāo)準(zhǔn)箔。用于誤差范圍在1-3%(*大)之間的測(cè)量。探頭誤差范圍應(yīng)另考慮。 二點(diǎn)校準(zhǔn):置零，用二片標(biāo)準(zhǔn)箔。用于以下場(chǎng)合: A). 在粗糙表面測(cè)讀; B). 厚度在兩片箔厚之間的平滑表面的精確測(cè)量。
※利用計(jì)算機(jī)進(jìn)行基礎(chǔ)校準(zhǔn) ※外設(shè)的讀值傳輸存儲(chǔ)功能 ※保護(hù)并鎖定校準(zhǔn)設(shè)置 ※更換電池是存儲(chǔ)數(shù)值、公英制轉(zhuǎn)換 ※浮點(diǎn)和定點(diǎn)方式數(shù)據(jù)傳送 ※組內(nèi)單值延遲顯示 ※連續(xù)測(cè)量模式中顯示*小值
MINITEST 2100探頭技術(shù)規(guī)格：
| 探頭 | 量程 | 低端 | 誤差 | *小曲率 | *小測(cè)量 | *小基 | 探頭尺寸 |
| F05 | 0-500μm | 0.1μm | ±(1%+0.7μm) | 1/5mm | 3mm | 0.2mm | φ15x62mm |
| F1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%+1μm) | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm | φ15x62mm |
| F1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%+1μm) | 平面/6mm | 5mm | 0.5mm | φ8x170mm |
| F3 | 0-3000μm | 0.2μm | ±(1%+1μm) | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm | φ15x62mm |
| F10 | 0-10mm | 5μm | ±(1%+10μm) | 5/16mm | 20mm | 1mm | φ25x46mm |
| F20 | 0-20mm | 10μm | ±(1%+10μm) | 10/30mm | 40mm | 2mm | φ40x66mm |
| F50 | 0-50mm | 10μm | ±(3%+50μm) | 50/200mm | 300mm | 2mm | φ45x70mm |
| N02 | 0-200μm | 0.1μm | ±(1%+0.5μm) | 1/10mm | 2mm | 50μm | φ16x70mm |
| N.08Cr | 0-80μm | 0.1μm | ±(1%+1μm) | 2.5mm | 2mm | 100μm | φ15x62mm |
| N1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%+1μm) | 1.5/10mm | 2mm | 50μm | φ15x62mm |
| N1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%+1μm) | 平面/10mm | 5mm | 50μm | φ13x170mm |
| N10 | 0-10mm | 10μm | ±(1%+25μm) | 25/100mm | 50mm | 50μm | φ60x50mm |
| N20 | 0-20mm | 10μm | ±(1%+50μm) | 25/100mm | 70mm | 50μm | φ65x75mm |
| N100 | 0-100mm | 100μm | ±(1%+0.3mm) | 100mm/平面 | 200mm | 50μm | φ126x155mm |
| CN02 | 10-200μm | 0.2μm | ±(1%+1μm) | 平面 | 7mm | 無(wú)限制 | φ17x80mm |
| FN1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%+1μm) | 1.5/10mm | 5mm | F：0.5mm | φ15x62mm |
| FN1.6P | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%+1μm) | 平面 | 30mm | F：0.5mm | |
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