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溫控樣品池支架（光譜分析用）

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產(chǎn)品簡介

溫控樣品池支架（光譜分析用）

詳細(xì)介紹

溫控樣品池支架（光譜分析用）

精確溫度制冷控制：-10.00 to +105.00 ^oC(±0.02 ^oC)

(特殊產(chǎn)品可降至-55.00 ^oC或者升至+150.00 ^oC)

產(chǎn)品特點(diǎn)：

l 制冷控制可實(shí)現(xiàn)快速、準(zhǔn)確地溫度控制

l 快速提升溫度，然后緩慢靠近設(shè)置區(qū)域

l 工作溫度范圍非常寬

l 能夠自動(dòng)改變溫度

l 電磁攪拌使樣品更加均勻

l 多樣品池支架并且實(shí)現(xiàn)樣品自動(dòng)轉(zhuǎn)換

l 熱敏探頭記錄樣品內(nèi)部溫度

qpod^TM 光纖光譜儀配套樣品池支架

qpod^TM 樣品池支架應(yīng)用于光纖光譜儀，包括帶電磁攪拌的Peltier控制的樣品池支架。qpod^TM 樣品池支架通過SMA905光纖接頭與光源或者光譜儀相連接。具有如下特點(diǎn)：

l 高品質(zhì)的石英透鏡，紫外增強(qiáng)反射鏡和偏振片

l 光學(xué)部件的焦距和位置可調(diào)

l 光學(xué)狹縫用于控制進(jìn)入樣品室的光能

l 12.5mm直徑的濾光片支架用于安裝透鏡組件

l 速度可調(diào)電磁攪拌

qpod^TM 樣品池支架有CUV-qpod-ABSKIT、CUV-qpod-FLKIT和CUV-qpod-MPKIT三款樣式。CUV-qpod-ABSKIT提供準(zhǔn)直光，用于吸收測試、透射測試或者濁度測試。CUV-qpod-FLKIT提供直角成像透鏡系統(tǒng)，用于熒光測試。CUV-qpod-MPKIT是一款多用途的光學(xué)支架，可以用于吸收測試或熒光測試。濾光片和偏光鏡架可選配。

TLC 40 用于吸收測量的單樣品池支架

TLC 40樣品池支架主要應(yīng)用于吸收光譜測量，在放置比色皿兩旁有兩個(gè)光學(xué)端口。具有如下特點(diǎn)：

l 可以滿足各種不同的分光光譜儀

l 可調(diào)電磁攪拌確保樣品均勻

l 工作于低溫條件，可用干氣體減少冷凝

l 工作于較低溫度條件，可選窗口翻蓋

TLC 42 用于雙光束光譜儀的兩樣品池支架

TLC 42為雙光束樣品池支架，類似于兩個(gè)單獨(dú)控制的TLC40單樣品池支架。具有如下特點(diǎn)：

l 采樣與參考可以是相同或不同溫度

l 每個(gè)樣品池支架具有電磁攪拌

l 工作于低溫條件，可用干氣體減少冷凝

l 工作于較低溫度條件，可選窗口翻蓋

TLC 50 用于熒光測量的兩樣品池支架

TLC 50樣品池支架主要應(yīng)用于熒光光譜測量，在放置比色皿四面均有光學(xué)端口。具有如下特點(diǎn)：

l 可以滿足各種不同的熒光光譜儀

l 包括一套可選狹縫，以控制激光發(fā)射強(qiáng)度

l 可調(diào)電磁攪拌確保樣品均勻

l 工作于低溫條件，可用干氣體減少冷凝

TURRET 400 用于吸收和熒光測量的四位旋轉(zhuǎn)樣品池支架

TURRET 400樣品池支架可以應(yīng)用于吸收光譜和熒光光譜測量，可以實(shí)現(xiàn)四位旋轉(zhuǎn)。具有如下特點(diǎn)：

l 可以滿足各種不同的分光光譜儀和熒光光譜儀

l 包括一套可選狹縫

l 可調(diào)電磁攪拌確保樣品均勻

l 工作于低溫條件，可用干氣體減少冷凝

l 四位對稱相同，保證分析樣品一致

FLASH 300 用于激光測試的樣品池支架

FLASH 300樣品池支架非常適用于激光測試，可以應(yīng)用于瞬態(tài)吸收、熒光和脈沖激光測試。在放置比色皿四面均有光學(xué)端口。具有如下特點(diǎn)：

l 垂直調(diào)整，可以與激光束的高度相匹配

l 水平微控制器驅(qū)動(dòng)，可以將激光束準(zhǔn)確定位在比色皿中

l 插銷可移除，以實(shí)現(xiàn)與比色皿直接接觸

l 可調(diào)電磁攪拌確保樣品均勻

l 工作于低溫條件，可用干氣體減少冷凝

l 工作于較低溫度條件，可選窗口翻蓋

CD 250 用于圓形二色性測試的樣品池支架

CD 250樣品池支架用于圓形二色性測試。具有如下特點(diǎn)：

l 根據(jù)不同比色皿，可以定制不同支架

l 可調(diào)電磁攪拌確保樣品均勻

l 工作于低溫條件，可用干氣體減少冷凝

l 通過熱交換充入氣體，以隔離外部空氣

l 無應(yīng)變石英窗片用于隔離比色皿，更好地控制溫度，特別是對于短光程比色皿

l 用于激發(fā)光的90度端口可選，以實(shí)現(xiàn)熒光測試

LC 600 用于線性可選吸收測試的樣品池支架

LC 600是Quantum Northwest的樣品池支架產(chǎn)品，具有線性可選的6位比色皿樣品架，應(yīng)用于吸收測試。具有如下特點(diǎn)：

l 馬達(dá)驅(qū)動(dòng)選擇6位樣品架

l 每一樣品架狹縫開口可選

l 可調(diào)電磁攪拌確保樣品均勻

l 工作于低溫條件，可用干氣體減少冷凝

溫度控制器

TC 125溫度控制器具有如下特點(diǎn)：

l 美國NIST校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)

l 標(biāo)準(zhǔn)熱敏探頭監(jiān)控樣品溫度

l 可實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程控制

每個(gè)溫控樣品池支架均包括一個(gè)基于微計(jì)算機(jī)的溫度控制器。對于特殊樣品池支架進(jìn)行增益設(shè)置，并且由NIST標(biāo)準(zhǔn)的溫度計(jì)進(jìn)行校準(zhǔn)。

對于單樣品池支架，比如TLC 40，TLC 50，FLASH 300和CD 250，選擇TC 125溫度控制器。

對于雙樣品池支架，比如TLC 42，選擇TC225溫度控制器，以實(shí)現(xiàn)對兩個(gè)試管進(jìn)行獨(dú)立控制。

對于四位旋轉(zhuǎn)樣品池支架，比如TURRET 400，選擇TC 425溫度控制器，該控制器前面板中有對應(yīng)位置的控制按鈕。

對于線性可選六位樣品池支架，比如LC 600，選擇TC 125溫度控制器，并由外部控制軟件來實(shí)現(xiàn)樣品移動(dòng)。

所有溫度控制器均提供外部溫度傳感探頭，以實(shí)現(xiàn)樣品溫度的監(jiān)控。溫度控制器可以與標(biāo)準(zhǔn)400系列和500系列的熱敏探頭。

溫度控制器可以通過USB通訊線與計(jì)算機(jī)相連。如果想要實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程控制，可以選配QNW系列控制選項(xiàng)。

產(chǎn)品選擇指導(dǎo)

l 溫度范圍

標(biāo)準(zhǔn)化產(chǎn)品的溫度控制范圍為-10 to +105 ^oC（±0.02 ^oC），特殊樣品池支架可以定制。低于-10 ^oC時(shí)，就需要通入干氣體已降低樣品池支架窗口的冷凝。如果需要更低的溫度，請來電詳細(xì)咨詢。

l 高溫操作

如果TLC 40或者TLC 50型號(hào)后面帶有/E標(biāo)志，可用于高于105 ^oC的環(huán)境。此時(shí)，需要溫度控制器中特殊固件來實(shí)現(xiàn)樣品池支架底部熱敏組件的轉(zhuǎn)換。雖然不應(yīng)該長期在高溫環(huán)境中使用，但是高至150 ^oC還是可能的。

l 外部串行控制

通過與電腦連接的串行通訊線可以對溫度控制器進(jìn)行控制。除非特別說明，否則提供的是標(biāo)準(zhǔn)USB連接線。通過溫度控制器前面板中的控制按鈕，外部串行控制能夠?qū)崿F(xiàn)文件說明功能，包括：作圖、溫度提升、腳注功能。當(dāng)選配SER 2.2時(shí)，TC 125溫度控制器可以通過USB通訊線來實(shí)現(xiàn)計(jì)算機(jī)控制。SER 2.2組件包括Windows程序、QNW串行控制，主窗口如圖所示。在主窗口中，可以設(shè)置溫度、調(diào)整溫度、電磁攪拌控制，并且可以收集探頭和樣品池支架的溫度。