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*產(chǎn)品價(jià)格

Thermo Scientific ARL QUANTX EDXRF 光譜儀提供出色的痕量分析靈敏度，打破了1納米的檢測限瓶頸。專為滿足實(shí)驗(yàn)室和制造環(huán)境中挑戰(zhàn)性的分析需求而設(shè)計(jì)，ARL QUANTX EDXRF 光譜儀的功能和靈活性可提高各種元素分析應(yīng)用的分析量。能量色散 X 射線熒光 (EDXRF) 分析技術(shù)可通過簡易的樣品制備，實(shí)現(xiàn)主量、次量和痕量元素分析，所分析樣品范圍廣泛，可以是固體、顆粒、粉末、薄膜和所有形式的液體。

ARL QUANT′ X熒光光譜儀是一個(gè)完整的配置包，配置的硬件，*的分析軟件，基于數(shù)百個(gè)XRF成功應(yīng)用分析案例和幾十年的實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)，為現(xiàn)場應(yīng)用方法開發(fā)和技術(shù)支持提供了強(qiáng)大的支撐。

分析優(yōu)勢:
? 快速分析 F到U之間的元素
? 靈敏度從 <1 ppm -100%
? 多元素的測量時(shí)間10-60秒
? 多達(dá)8種的設(shè)置條件同時(shí)選擇，應(yīng)用于各種樣品的多元素分析
? 通過 CCD 照相機(jī)顯示樣品影像
? 可調(diào)的X射線光斑直徑1- 15 mm，以便適應(yīng)不同樣品大小
? 的電制冷Si(Li)檢測器技術(shù)和數(shù)字脈沖處理器技術(shù)
? Wintrace 多元化的 XRF 應(yīng)用軟件，多個(gè)報(bào)告輸出選項(xiàng)
? 高級無標(biāo)樣 厚度和涂層分析
? 的UniQuant 無標(biāo)樣分析技術(shù)
? 機(jī)械持久性，可保證長期的*使用，占地面積小，機(jī)動性好
? 可以為客戶定制應(yīng)用并在線升級， 易于安裝維護(hù)

探測器內(nèi)部的-*技術(shù)
作為一個(gè)有著超過40年經(jīng)驗(yàn)的X射線探測器制造商，本公司深入了解并定義了探測器性能的關(guān)鍵參數(shù)。經(jīng)歷了4代探測器的技術(shù)創(chuàng)新，硅鋰Si(Li)探測器成為ARL QUANT′ X 的心臟 ，提供了高靈敏度，速度和可靠性。
? 更低的晶體溫度提供了更佳的分辨率
? 更厚的晶體可獲得更佳的探測性能
? 大的晶體面積可獲得更佳的檢測下限

功能強(qiáng)大、易于使用的 WinTrace*軟件
? 無標(biāo)和半無標(biāo)分析
? 基本參數(shù) (FP) 和基于標(biāo)樣的經(jīng)驗(yàn)方法
? 多層厚度及成分
? 不限元素、不限數(shù)量的標(biāo)樣
? 利用自動化操作實(shí)現(xiàn)多個(gè)激發(fā)條件