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聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來自 環(huán)保在線儀器名稱：場(chǎng)發(fā)射透射電鏡（TEM）型號(hào)：TecnaiG2F30/F20JEOL-2100FFIB+球差校正電鏡檢測(cè)項(xiàng)目：形貌觀察（磁性、非磁樣品、生物樣均可）選區(qū)電子衍射（環(huán)衍射、點(diǎn)衍射）高分辨像（磁性、非磁樣品、生物樣均可）EDS能譜（點(diǎn)掃、線掃、面掃）明場(chǎng)、暗場(chǎng)Mapping球差電鏡應(yīng)用范圍：可以對(duì)各種材料的物質(zhì)內(nèi)部微結(jié)構(gòu)進(jìn)行觀察
| 儀器名稱： | 場(chǎng)發(fā)射透射電鏡（TEM） | 型號(hào)： | Tecnai G2 F30/F20 JEOL-2100F FIB+球差校正電鏡 |
| 檢測(cè)項(xiàng)目： | 形貌觀察（磁性、非磁樣品、生物樣均可） 選區(qū)電子衍射（環(huán)衍射、點(diǎn)衍射） 高分辨像（磁性、非磁樣品、生物樣均可） EDS能譜（點(diǎn)掃、線掃、面掃） 明場(chǎng)、暗場(chǎng) Mapping 球差電鏡 | ||
| 應(yīng)用范圍： | 可以對(duì)各種材料的物質(zhì)內(nèi)部微結(jié)構(gòu)進(jìn)行觀察，電子衍射分析及高分辨電子顯微術(shù)研究，材料粒徑統(tǒng)計(jì)，晶體結(jié)構(gòu)及晶體性能進(jìn)行研究，配合能譜儀可以對(duì)各種元素進(jìn)行定性、及半定量的微區(qū)分析，廣泛應(yīng)用于納米技術(shù)、材料、物理、生物、化學(xué)、環(huán)境、光電子等領(lǐng)域。 | ||
| 制樣要求： | 塊體樣品，要求樣品大小為直徑3mm的圓，厚度為200nm以下; 粉末和液體樣品，要求樣品能夠均勻分散在支持膜上并且干燥，粉末樣>0.01g,液體樣>5ml; 生物樣可做超薄冷凍切片制； 金屬樣、陶瓷樣、塊狀樣可以FIB制樣； 離子減薄需要樣品機(jī)械磨樣到100um。 有3D-TEM、EELS、STEM、超薄冷凍切片、FIB、鋨酸熏染制樣等需求可進(jìn)一步咨詢。 | ||
PS：送樣請(qǐng)附帶“委托測(cè)試單”。TEM測(cè)試要求模板（附本） 點(diǎn)擊下載
測(cè)試提示：
1.第三方檢測(cè)，可開正規(guī)測(cè)試發(fā)票，附帶測(cè)試清單。
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