污水處理設(shè)備 污泥處理設(shè)備 水處理過濾器 軟化水設(shè)備/除鹽設(shè)備 純凈水設(shè)備 消毒設(shè)備|加藥設(shè)備 供水/儲(chǔ)水/集水/排水/輔助 水處理膜 過濾器濾芯 水處理濾料 水處理劑 水處理填料 其它水處理設(shè)備
北京中瑞先創(chuàng)科技有限公司
參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)
品 牌其他品牌
廠商性質(zhì)0
所 在 地北京市
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更新時(shí)間:2022-10-07 09:54:13瀏覽次數(shù):183次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來自 環(huán)保在線靈敏度更高
采集速度更快
全新的FX系列,使用CMOS探測(cè)器有效提高靈敏度。每秒4500張的圖譜獲得速度,以及強(qiáng)化的模塊通訊集成了以太網(wǎng)以及WiFi,全新的光譜儀在UV-VIS波段響應(yīng)更加靈敏,更快的分析速度在食品的分類揀選及流程、生物科學(xué)等行業(yè)表現(xiàn)更加優(yōu)秀。
靈敏度更高
采集速度更快
通訊方式更多
產(chǎn)品介紹
全新的FX系列,使用CMOS探測(cè)器有效提高靈敏度。每秒4500張的圖譜獲得速度,以及強(qiáng)化的模塊通訊集成了以太網(wǎng)以及WiFi,全新的光譜儀在UV-VIS波段響應(yīng)更加靈敏,更快的分析速度在食品的分類揀選及流程、生物科學(xué)等行業(yè)表現(xiàn)更加優(yōu)秀。
產(chǎn)品特征及優(yōu)勢(shì)
特征 | 優(yōu)勢(shì) | 應(yīng)用 |
CMOS 檢測(cè)器 | 光譜覆蓋200-1100nm 而且在UV段靈敏度更高 | ? 生物醫(yī)學(xué)(比如:DNA檢測(cè)) ? UV段氣體檢測(cè) |
高速度采集 | 更短時(shí)間、更快速度獲取光譜 | ? 食品篩選與過程監(jiān)控 ? 動(dòng)力學(xué)檢測(cè) ? 激光器檢測(cè)(脈沖模式) ? 高強(qiáng)度等離子體檢測(cè) ? 瞬時(shí)采集 ? 產(chǎn)品生產(chǎn)過程中的監(jiān)測(cè)和質(zhì)量控制 |
積分時(shí)間最小10μs | ||
緩存和時(shí)間戳 | 板載50,000張光譜緩存 確保整個(gè)動(dòng)力學(xué)測(cè)試過程不會(huì)丟失數(shù)據(jù) | ? 細(xì)胞中酶反應(yīng)化學(xué)動(dòng)力學(xué) ? 藥物合成中的反應(yīng)動(dòng)力學(xué) |
多通訊模式 | 以太網(wǎng),Wi-Fi,Type-C多通訊模式 | ? 遠(yuǎn)程監(jiān)控 ? 手持化設(shè)備 ? 過程應(yīng)用 |
產(chǎn)品參數(shù)
光譜范圍 | 200-1100nm(可在該范圍內(nèi)進(jìn)行配置) |
可選配置 | UV-Vis (200-850 nm) w/25 μm slit |
Vis-NIR (350-1000 nm) w/25 μm slit | |
寬光譜范圍(200-1025 nm) w/25 μm slit | |
光學(xué)分辨率 | 0.8nm(FWHM),基于配置:600刻線光柵以及5μm狹縫 |
SNR(單次掃描) | ~300:1 |
動(dòng)態(tài)范圍(單次掃描) | ~6400:1 |
積分時(shí)間 | 10 μs-10 s |
掃描速度(zui大) | 4500 scans/s* 掃描速度取決于很多因素,包括計(jì)算機(jī)硬件的性能以及操作系統(tǒng)的區(qū)別。 |
熱穩(wěn)定性 | 0.11 pixels/℃ |
狹縫 | 5,10,50,100 或 200μm狹縫 |
SMA 905 或 FC |
更多應(yīng)用方案
LIBS 光譜:
LIBS系統(tǒng)中,激光器用來激發(fā)樣品產(chǎn)生等離子體,光譜儀獲取的原子發(fā)射譜線可以判定樣品的物質(zhì)組成成分。由于等離子體的生命周期很短,激光激發(fā)樣品的時(shí)間也很短,所以需要使用更短積分時(shí)間的光譜儀來收集等離子體的主要光譜信息。
快速測(cè)量:
快速獲取的光譜可以觀察火花、爆炸物、炮火等的特征信息,包括組成和溫度信息等。通過同步觸發(fā),可以監(jiān)測(cè)同一反應(yīng)或者同一物質(zhì)不同時(shí)間的不同信息。
生產(chǎn)線在線監(jiān)測(cè):
對(duì)在線生產(chǎn)中的產(chǎn)品或者整個(gè)生產(chǎn)過程進(jìn)行監(jiān)控,由于整個(gè)過程非常迅速,另外可檢測(cè)點(diǎn)又是特定的,所以檢測(cè)儀器就需要極快的光譜的響應(yīng)時(shí)間。生產(chǎn)過程中進(jìn)行同步測(cè)量非常有利于對(duì)整個(gè)過程進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)控。
LED 分選:
LEDs在生產(chǎn)過程中通過CWL,F(xiàn)WHM,或者CIE顏色值差異進(jìn)行分選,整個(gè)分選過程速度非???,而顏色作為白光LED分選的主要判斷指標(biāo),另外還因?yàn)榘坠釲ED的ΔE值也相對(duì)比較小,所以就需要檢測(cè)的設(shè)備有更高的靈敏度和更短的時(shí)間獲得更穩(wěn)定的光譜數(shù)據(jù)。
激光:
盡管使用光譜儀對(duì)激光進(jìn)行檢測(cè)很大可能出現(xiàn)飽和現(xiàn)象,但是我們還是要檢測(cè)激光指標(biāo)CWL和FWHM。如果需要檢測(cè)FWHM,必須要確保光譜儀的分辨率要低于激光的FWHM。即使光譜儀的分辨率寬于待檢測(cè)的激光線寬,只要檢測(cè)器不飽和,CWL的值還是準(zhǔn)確的。
光發(fā)射光譜 (OES):
發(fā)射光譜測(cè)試一般會(huì)用在科研、環(huán)境監(jiān)測(cè)等領(lǐng)域,被檢測(cè)的樣品一般被氣化并表現(xiàn)為原子形式,這些離子化的原子產(chǎn)生的發(fā)射譜線可以用來表征物質(zhì)成分。我們的OEM客戶使用該方法對(duì)水中的痕量金屬進(jìn)行檢測(cè),同時(shí)也有其他客戶使用該方法對(duì)工業(yè)用油進(jìn)行檢測(cè)。
等離子體監(jiān)控:
等離子體的發(fā)射譜線可以用來評(píng)估等離子體的狀態(tài)或者消亡過程。
激光焊接/沉積:
可以通過等離子體的發(fā)射譜線對(duì)激光焊接/沉積過程中的溫度及其他參數(shù),從而監(jiān)控整個(gè)焊接過程。
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主營產(chǎn)品:儀器儀表 電子產(chǎn)品 機(jī)械設(shè)備 化工產(chǎn)品 貨物進(jìn)出口 技術(shù)進(jìn)出口 代理進(jìn)出口 維修機(jī)械設(shè)備
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