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蘇州華碧微科檢測技術(shù)有限公司
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更新時(shí)間：2023-08-10 18:38:29瀏覽次數(shù)：269次
聯(lián)系我時(shí)，請告知來自 環(huán)保在線AEC(AutomotiveElectronicsCouncil)——汽車電子委員會，由美國三大汽車公司（Chrysler/Ford/GM）聯(lián)合發(fā)起，并于1994年創(chuàng)立，會員分布于車廠、汽車電子模組廠和元器件廠商
AEC(Automotive Electronics Council)——汽車電子委員會，由美國三大汽車公司（Chrysler / Ford / GM）聯(lián)合發(fā)起，并于1994年創(chuàng)立，會員分布于車廠、汽車電子模組廠和元器件廠商。
AEC Q100是基于失效機(jī)理的集成電路應(yīng)力測試鑒定，由AEC委員會制定，適用于車用 IC 芯片的綜合可靠性測試認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)，是芯片產(chǎn)品應(yīng)用于汽車領(lǐng)域的基本門檻。首版于1995年發(fā)行，并持續(xù)更新到2014年的 H 版本，也是目前沿用的標(biāo)準(zhǔn)。AEC Q100標(biāo)準(zhǔn)是芯片產(chǎn)品（依產(chǎn)品類型、封裝形貌及取樣數(shù)量的要求）執(zhí)行并通過的必要測試項(xiàng)目。
適用產(chǎn)品：單顆IC，如MCU芯片、MPU芯片、存儲類芯片、計(jì)算類芯片、安全類芯片、LED類驅(qū)動(dòng)芯片、電源芯片、運(yùn)算放大器、比較器、感知用模擬芯片、通信類芯片等
AEC-Q100規(guī)范 7大類別共41項(xiàng)的測試
群組A--加速環(huán)境應(yīng)力測試(PC、THB、HAST、AC、UHST、TH、TC、PTC、HTSL)共6項(xiàng)測試
群組B--加速生命周期模擬測試(HTOL、ELFR、EDR)--共3項(xiàng)測試
群組C--封裝組裝完整性測試(WBS、WBP、SD、PD、SBS、LI)--共6項(xiàng)測試
群組D--芯片制造可靠性測試(EM、TDDB、HCI、NBTI、SM)--共5項(xiàng)測試
群組E--電性驗(yàn)證測試(TEST、FG、HBM/MM、CDM、LU、ED、CHAR、EMC、SC、SER)--共11項(xiàng)測試
群組F--缺陷篩選測試(PAT、SBA)--共2項(xiàng)測試
群組G--腔體封裝完整性測試(MS、VFV、CA、GFL、DROP、LT、DS、IWV)--共8項(xiàng)測試
AEC-Q100驗(yàn)證流程
測試項(xiàng)目
華碧實(shí)驗(yàn)室提供專業(yè)的芯片集成電路的完整分析服務(wù)，服務(wù)能力和項(xiàng)目覆蓋車廠和一供，并建立持續(xù)緊密的合作關(guān)系，是AEC-Q測試認(rèn)證的合作伙伴，華碧能夠?yàn)榧呻娐菲髽I(yè)提供一站式測試認(rèn)證服務(wù)：
l開發(fā)測試計(jì)劃：依據(jù)產(chǎn)品使用條件和質(zhì)量指標(biāo),定義符合車電測試和認(rèn)證計(jì)劃;
l測試方案開發(fā)
l測試夾具評估和制作
l測試程序開發(fā)和調(diào)試
l失效分析和改善建議
l整合AEC-Q100測試報(bào)告
l產(chǎn)品認(rèn)證證書
l技術(shù)顧問：提供定制化項(xiàng)目開發(fā)，包含芯片模組部分
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