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更新時(shí)間：2021-08-25 16:37:29瀏覽次數(shù)：266次
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來(lái)自 環(huán)保在線Primus III產(chǎn)品說(shuō)明：研究型高階掃描式WDXRF元素分析儀高功率WDXRF微區(qū)分析、薄膜分析產(chǎn)品特點(diǎn)：1.非破壞性分析4Be~92U2.適用於固狀、液狀、粉末與薄膜樣品3.以極化光源激發(fā)。
產(chǎn)品說(shuō)明：
研究型高階掃描式WDXRF 元素分析儀
高功率WDXRF微區(qū)分析、薄膜分析
產(chǎn)品特點(diǎn)：
1. 非破壞性分析4Be~92U
2. 適用於固狀、液狀、粉末與薄膜樣品
3. 以極化光源激發(fā)，降低偵測(cè)極限
4. 不需標(biāo)準(zhǔn)品即可進(jìn)行半定量分析
5. 以RPF-SQX降低標(biāo)準(zhǔn)品需求
6. 新的譜峰重疊處理方式減少干擾誤差
7. 以EZ Analysis簡(jiǎn)化操作介面產(chǎn)品應(yīng)用範(fàn)圍:
1. 石油產(chǎn)品和潤(rùn)滑劑中的硫16S 和其他元素分析
2. 原始材料中的主量和次量氧化物分析
3. 食品和化學(xué)產(chǎn)品中的主量和微量元素以及污染物
4. 電子和磁性材料、化學(xué)工業(yè)、陶瓷及水泥工業(yè)
5. 鋼鐵工業(yè)、冶金、金屬工業(yè)
6. 地質(zhì)礦產(chǎn)(石灰石、礦沙、鋁土礦、礦渣)
7. 塑膠以及高分子材料分析
8. 微區(qū)分析、薄膜分析
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