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單點測量的非接觸式薄層電阻和圖層厚度測量設(shè)備

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更新時間：2022-05-22 09:11:42瀏覽次數(shù)：221次

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深圳市嘉士達精密儀器有限公司

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產(chǎn)品簡介

單點測量的非接觸式薄層電阻和圖層厚度測量設(shè)備EddyCusTFlab2020系列產(chǎn)品簡介EddyCusTFlab2020系列允許在非接觸模式下對導(dǎo)電薄膜進行手動單點測量和薄金屬層的層厚測量

詳細介紹

單點測量的非接觸式薄層電阻和圖層厚度測量設(shè)備 EddyCus® TF lab 2020 系列

產(chǎn)品簡介

EddyCus® TF lab 2020 系列允許在非接觸模式下對導(dǎo)電薄膜進行手動單點測量和薄金屬層的層厚測量。緊湊的臺式設(shè)備非常適合快速準確地測量大 200 x 200 mm²（8 x 8 英寸）的樣品。除了測量薄的導(dǎo)電層外，還可以分析摻雜的晶片和導(dǎo)電聚合物。

產(chǎn)品優(yōu)勢

非接觸式實時測量
精確測量導(dǎo)電薄膜
隱藏和封裝導(dǎo)電層的表征
測量數(shù)據(jù)保存和導(dǎo)出功能

設(shè)計要點

薄層電阻
金屬層的厚度測量
單點測量
質(zhì)量控制，輸入和輸出控制
樣品尺寸：10 x 10 mm² 至 200 x 200 mm²（0.5 x 0.5 英寸至 8 x 8 英寸）
測量范圍：0.1 mOhm/sq 至 100 kOhm/sq

應(yīng)用域

鍍膜建筑玻璃，例如 LOWE
顯示器、觸摸屏和平板顯示器
OLED和LED應(yīng)用
智能玻璃
石墨烯層
光伏晶片和電池
半導(dǎo)體晶圓
金屬化層和晶圓金屬化
除冰和加熱應(yīng)用
電池電
導(dǎo)電涂層紙和導(dǎo)電紡織品

產(chǎn)品選型

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