DM2300型
X熒光多元素分析儀
專門針對(duì)RoHS/ELV/玩具/包裝/首飾等中有害元素及無鹵化中鹵素的測(cè)量
能同時(shí)測(cè)量Cl/Cr/As/Se/Br/Cd/Sb/Ba/Hg/Pb等元素
概述
DM2300型X熒光分析儀（或稱X熒光光譜儀）(英文名為DM2300 EDXRFAnalyzer)是由上海愛斯特電子有限公司集數(shù)十年X熒光分析儀的研究經(jīng)驗(yàn)，在公司原有的DM系列X熒光鈣鐵分析儀、測(cè)硫儀、鋁硅分析儀、多元素分析儀等的基礎(chǔ)上研制推出的一種達(dá)到水平的分析儀器。儀器采用了能量色散X射線熒光（Energy Disperse X Ray Fluorescence）（EDXRF）分析技術(shù)，能分析從鋁(原子序數(shù)13)到鈾(原子序數(shù)92)的所有元素，對(duì)大多數(shù)元素分析的含量可低至1ppm高至，還能進(jìn)行鍍層厚度測(cè)量。具有分析速度快、精度高、人為誤差小、操作簡便、只需一次性投資、無污染等特點(diǎn)，故廣泛應(yīng)用于電子電氣、建材、冶金、石油、化工、地質(zhì)、礦山等各行各業(yè)。
對(duì)于RoHS指令、ELV指令、玩具、包裝、首飾等中有害元素及無鹵化中鹵素的測(cè)量，目前有多種方法，但絕大部分的測(cè)量方法都非常煩瑣，特別是制樣那更是復(fù)雜，且時(shí)間很長，又污染環(huán)境。而X熒光分析法雖然準(zhǔn)確度較差，但它分析速度快、操作簡單、無污染、制樣方便或根本無需制樣，能對(duì)絕大部分產(chǎn)品作出正確判定，而少量不能判定的產(chǎn)品再用其他方法，從而達(dá)到先篩選的目的，使測(cè)量方便了許多。所以X熒光分析法作為RoHS指令、ELV指令、玩具、包裝、首飾等中有害元素及無鹵化中鹵素測(cè)量的篩選法，得到所有最近頒布了六個(gè)有關(guān)RoHS的檢測(cè)方法標(biāo)準(zhǔn)，其個(gè)標(biāo)準(zhǔn)就是：SN/T 2003.1-2005 《電子電氣產(chǎn)品中鉛、汞、鎘、鉻、溴的測(cè)定 部分：X射線熒光光譜定性篩選法》。對(duì)每一個(gè)需要測(cè)量RoHS指令、ELV指令、玩具、包裝、首飾等中有害元素及無鹵化中鹵素的單位，X熒光分析儀是*的。
DM2300型X熒光分析儀是本公司諸多X熒光分析儀中一款專門針對(duì)RoHS指令、ELV指令、玩具、包裝、首飾等中有害元素及無鹵化中鹵素的測(cè)量而設(shè)計(jì)開發(fā)的產(chǎn)品。它采用X光管激發(fā)，光管高壓的電壓和電流連續(xù)可調(diào)，具有多個(gè)濾色片和準(zhǔn)直器并可自動(dòng)轉(zhuǎn)換，能使儀器達(dá)到的激發(fā)佳的計(jì)數(shù)率和的峰背比，從而有*的精度和很小的檢出限；它采用高分辨率的PIN半導(dǎo)體探測(cè)器，有效避免元素的相互干擾；它采用內(nèi)標(biāo)方法及具有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的分譜技術(shù)，在無標(biāo)準(zhǔn)樣品時(shí)亦可準(zhǔn)確分析樣品；它的樣品室體積達(dá)480 mm×350mm×125mm，能測(cè)量大件物品；它的設(shè)計(jì)對(duì)屏蔽防護(hù)，無三廢公害；其測(cè)量準(zhǔn)確度及檢出限達(dá)到進(jìn)口同類儀器的水平，而價(jià)格只是進(jìn)口同類儀器的幾分之一，特別適合我國國情。
憑借著本公司數(shù)十年X熒光分析儀的研究經(jīng)驗(yàn)，憑借著本公司數(shù)十年在X熒光分析領(lǐng)域的良好口碑和重要地位，我們相信：DM2300型X熒光分析儀定將得到廣大需要測(cè)量RoHS指令、ELV指令、玩具、包裝、首飾等中有害元素及無鹵化中鹵素的單位的認(rèn)可，成為國外同類產(chǎn)品的替代品，為我國的檢測(cè)事業(yè)和環(huán)境保護(hù)作出一定的貢獻(xiàn)。
特點(diǎn)
(1) 采用EDXRF物理分析方法，分析中不接觸、不破壞樣品，無需化學(xué)試劑等其他輔助材料。
(2) 多元素同時(shí)快速分析，一般幾分鐘給出Cl氯、鉻Cr、砷As、硒Se、溴Br、鎘Cd、銻Sb、鋇Ba、汞Hg、鉛Pb等元素的ppm含量結(jié)果。
(3) 采用X光管激發(fā)，光管高壓的電壓和電流可調(diào)，使儀器達(dá)到的激發(fā)效率和的計(jì)數(shù)率。。
(4) 具有4個(gè)濾色片和4個(gè)準(zhǔn)直器，可任意自動(dòng)轉(zhuǎn)換組合，使儀器達(dá)到的計(jì)數(shù)率和的峰背比，從而有*的精度和很小的檢出限。
(5) 采用高分辨率的PIN半導(dǎo)體探測(cè)器，有效避免元素的相互干擾。
(6) 采用高分辨率的CCD攝像頭，樣品平臺(tái)可移動(dòng)，從而保證測(cè)量目標(biāo)位置的準(zhǔn)確。
(7) 由計(jì)算機(jī)進(jìn)行顯示、操作和數(shù)據(jù)處理，從而使操作簡便，分析快速準(zhǔn)確。
(8) 儀器集成化程度高，可靠性好，維修方便。環(huán)境適應(yīng)能力強(qiáng)，長期穩(wěn)定性好。
(9) 采用內(nèi)標(biāo)方法及具有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的分譜技術(shù)，在無標(biāo)準(zhǔn)樣品時(shí)亦可準(zhǔn)確分析樣品。
(10) 樣品室體積大，能測(cè)量大件物品。
(11) 價(jià)格功能比低，適合我國國情。
(12) 設(shè)計(jì)對(duì)屏蔽防護(hù)，無三廢公害，射線防護(hù)安全可靠。
主要技術(shù)指標(biāo)
(1) 分析元素種類：Cl氯、鉻Cr、砷As、硒Se、溴Br、鎘Cd、銻Sb、鋇Ba、汞Hg、鉛Pb等。
(2) 有害元素及鹵素含量分析范圍： 5～3000ppm。
(3) 系統(tǒng)分析時(shí)間： 300s (典型值)。
(4) 分析精度： 理想狀態(tài)下，測(cè)量精度為2～3ppm；
一般狀態(tài)下，測(cè)量相對(duì)誤差為10%。
(5) 檢出限： ≤2 ppm。
(6) X射線光管： 高壓：≤50kV， 電流：≤1mA，均連續(xù)可調(diào)。
(7) 準(zhǔn)直器： Ф1mm、Ф3mm、Ф5mm、Ф7mm共4個(gè)可自動(dòng)切換。
(8) 系統(tǒng)能量分辯率： 對(duì)于MnKα5.9keV的X射線，其半高寬：≤155 eV。
(9) 長時(shí)間穩(wěn)定性： 開機(jī)1小時(shí)后，整機(jī)8小時(shí)穩(wěn)定性：峰位和峰面積相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差均小于0.1%。
(10) 樣品室體積： 長×寬×高：480 mm×350 mm×125mm。
(11) 使用條件： 環(huán)境濕度：5～30℃，相對(duì)濕度≤80%(25℃)，供電電源：220±20V，50Hz。
(12) 整機(jī)功耗： ≤150W。
(13) 尺寸與重量： 長×寬×高：503 mm×412mm×478mm；重量：45Kg。
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