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動態(tài)光散射納米粒度/Zeta電位分析儀SZ-100

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更新時間：2022-07-12 13:29:55瀏覽次數(shù)：394次

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產(chǎn)品簡介

動態(tài)光散射納米粒度/Zeta電位分析儀SZ-100

詳細介紹

HORIBA SZ-100系列納米顆粒分析儀在描述小顆粒物理性質(zhì)方面是靈活的分析工具。根據(jù)不同的配置和應(yīng)用程序可以完成顆粒度的分析，zeta電位的檢測，分子量（Mw）以及第二維利系數(shù)（A₂）的測定。
SZ-100的典型應(yīng)用包括：納米顆粒，膠體，乳液以及亞微米懸浮液。

SZ-100還可以用于檢測蛋白質(zhì)、聚合物及其他大分子的分子量和第二維利系數(shù)。用戶準備幾個已知濃度的溶液，然后使用系統(tǒng)的靜態(tài)光散射模式繪制Debye曲線，從而計算出Mw和A₂。

主要特點：

◆ 可測納米粒子的三個重要要素——粒子直徑、Zeta電位和分子量

◆ 超寬動態(tài)測定有效范圍：0.3nm~8000nm（光子相關(guān)法）

◆ Zeta電位測定范圍：-200~+200mV（電泳多普勒法）

◆ 分子量測定范圍：1×10 3~2×10 7 Da（Debye Plot法）

◆ 從ppm到百分之幾十的超寬樣品濃度范圍，在原液狀態(tài)下取樣測定。

◆ Horiba*的微量電泳樣品池，可以測定僅100μl 的Zeta電位

◆ 優(yōu)秀的雙光路系統(tǒng)設(shè)計(90°和173°雙檢測器）適用于更寬濃度范圍的樣品測量

◆ *的檢測池清潔程度測定，保證了結(jié)果的準確性。

◆ 操作簡單快捷，取樣后僅需按測定開始按鈕

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