SEK是一款科研級適用于極弱光檢測的微型光譜儀，采用濱松面陣背照式探測器FFT-CCD，的光學(xué)平臺及光學(xué)組件設(shè)計，具有更低的雜散光和更高的靈敏度。
SEK采用片上熱電制冷技術(shù)，可將探測器的溫度降到低于環(huán)境溫度40℃以下，能夠有效地降低系統(tǒng)的熱電噪聲，極大的提高系統(tǒng)的穩(wěn)定性，對于熒光、拉曼等弱光檢測更具優(yōu)勢。
產(chǎn)品參數(shù)
- 探測器
| 參數(shù) | 指標(biāo) |
| 探測器名稱 | Hamamatsu S7031 |
| 探測器類型 | 面陣背照式FFT-CCD |
| 像素 | 1044 x 64 total pixels |
| 量子化效率 | 250nm處85%，峰值95% |
| 探測器面積 | 縱 / 橫: 24.576 mm / 1.392 mm |
| 暗電流噪音 | 10 e-/pixel/sec @ 0 ºC |
| 制冷 | 內(nèi)一級熱電制冷 |
- 光譜特性
| 參數(shù) | 指標(biāo) |
| 波長范圍 | 視光柵而定，可從190~1100 nm |
| 光學(xué)分辨率 | 0.17~7.67 nm |
| 信噪比 | 1000:1 |
| A/D位數(shù) | 16 bits |
| 暗噪聲 | 6 RMS Counts @10 ms |
| 動態(tài)范圍 | 12000:1 |
| 積分時間 | 8 ms~15 min |
| 雜散光 | ＜0.08% @ 602 nm，0.4%@435 nm |
| 矯正線性度 | > 99% |
Ø 可長時間曝光，提高光譜儀對極弱光的響應(yīng)能力
Ø 采用熱電內(nèi)制冷技術(shù)，有效地降低了光譜儀的暗噪音
Ø 的光路平臺設(shè)計，使得靈敏度和分辨率顯著提高
Ø 寬譜段效率均衡，最寬范圍可達190~1100 nm
型號說明
| 型號 | 說明 |
| SEK | 制冷型微型光纖光譜儀（350~1100 nm） |
| SEK-EX | 制冷型微型光纖光譜儀（全波段） |
| SEK | 定制不同波段的微型光譜儀 |
環(huán)保在線