LDJD-C高頻介電常數(shù)儀原理：介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復(fù)合材料等的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì)；通過測定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)（ε），可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)。

詳細(xì)介紹

LDJD-C高頻介電常數(shù)儀介紹：

介電常數(shù)測試儀采用高頻諧振法，并提供了通用、多用途、多量程的阻抗測試。

它以單片機(jī)控制儀器，測量核心采用了頻率數(shù)字鎖定、標(biāo)準(zhǔn)頻率測試點(diǎn)自動(dòng)設(shè)定、諧振點(diǎn)自動(dòng)搜索、Q值量程自動(dòng)轉(zhuǎn)換、數(shù)值顯示等新技術(shù)，改進(jìn)了調(diào)諧回路；

使得調(diào)諧測試回路的殘余電感減至zui低，并保留了原Q表中自動(dòng)穩(wěn)幅等技術(shù)，使得新儀器在使用時(shí)更為方便，測量時(shí)更為精確。

儀器能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量；

電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。

高頻介電常數(shù)儀參數(shù)：

LDJD-A型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀信號(hào)源頻率覆蓋范圍10kHz～70MHz；主電容調(diào)節(jié)范圍：30～550pF；

LDJD-B型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀信號(hào)源頻率覆蓋范圍10kHz～110MHz，主電容調(diào)節(jié)范圍：30～540pF；

LDJD-C型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀信號(hào)源頻率覆蓋范圍100kHz～160MHz，主電容調(diào)節(jié)范圍： 17～240pF（一體鍍銀成型，精度高）；帶步進(jìn)馬達(dá)，電容自動(dòng)搜索

關(guān)鍵詞：電容器