PXS8-Te同軸光體視顯微鏡/紡織品檢驗同軸光體視顯微鏡

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產品型號PXS8-Te

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更新時間：2023-12-10 17:18:26瀏覽次數：143次

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產品簡介

簡要描述：適用于電子線路板、芯片封裝、珠寶鑒定、研相礦本分析、微小精密零件品質控制、裝配、*、銀行痕跡對比、教學示范、臨床手術樣本、農業(yè)選種，紡織品檢驗、養(yǎng)殖業(yè)品種優(yōu)選、病理分析。

詳細介紹

PXS8-Te同軸光體視顯微鏡 適用于電子線路板、芯片封裝、珠寶鑒定、研相礦本分析、微小精密零件品質控制、裝配、*、銀行痕跡對比、教學示范、臨床手術樣本、農業(yè)選種，紡織品檢驗、養(yǎng)殖業(yè)品種優(yōu)選、病理分析。

PXS8-Te同軸光體視顯微鏡 特點：
PXS8-Te來自美國的品牌，目前國內僅有的高倍立體顯微鏡，我們采用和國外同步的同軸光技術，以滿足對透明封裝后的芯片特殊檢測標準的使用要求。
品質優(yōu)良的光學系統(tǒng)使圖像更明亮，即使長時間觀測眼睛也不會疲勞。
粗微動的調焦應用在高倍體視上，使高倍調焦變得更加精準。
多種支架的選配，總能滿足復雜工位的操作要求。
還有各種光譜光源的配合，幫助解決碰到的困難。

PXS8-Te同軸光體視顯微鏡 主要技術參數
鏡筒：雙目，45度傾斜
高眼點大視野目鏡：PLAN10X/20 mm
物鏡：0.9X-7.4X
變倍比：1：8.2
總放大倍數：9-74X
調焦：粗微動調焦，粗動立桿高度300mm，升降范圍105mm
工作距離：102mm