產(chǎn)品概述PRODUCTOVERVIEW01產(chǎn)品特點(diǎn)PRODUCTFEATURES臺式X熒光光譜儀真空型能量色散X熒光光譜儀：臺式X熒光光譜儀能量色散X熒光光譜儀融合經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法、基本參數(shù)法（FP法）等分析方法，測試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性能得到全面保證

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品概述

PRODUCT OVERVIEW

產(chǎn)品特點(diǎn)

PRODUCT FEATURES

臺式X熒光光譜儀真空型能量色散X熒光光譜儀：

臺式X熒光光譜儀能量色散X熒光光譜儀融合經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法、基本參數(shù)法（FP法）等分析方法，測試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性能得到全面保證。

臺式X熒光光譜儀能量色散X熒光光譜儀經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法：儀器依據(jù)對標(biāo)準(zhǔn)樣品的測定，確定影響系數(shù)。對標(biāo)準(zhǔn)樣品要求高，需和待測樣品類型相近，校正模型簡單。

臺式X熒光光譜儀能量色散X熒光光譜儀基本參數(shù)法（FP法）：儀器根據(jù)實(shí)際檢測物質(zhì)，通過對多種物理量建模計(jì)算確定參數(shù)。對標(biāo)準(zhǔn)樣品要求不高，計(jì)算較復(fù)雜，適合缺少對應(yīng)標(biāo)樣的物質(zhì)檢測。

軟件功能

元素含量分析范圍為2 PPm到99.99%

采用BG內(nèi)標(biāo)校正，提高非定性式樣測量精度

用戶自定義多曲線多光譜擬和分析方法

全自動(dòng)定量分析報(bào)告簡捷準(zhǔn)確

自適應(yīng)初試化校正

光譜的自動(dòng)獲取和顯示。

具有自動(dòng)檢測儀器工作狀態(tài)的功能。

自動(dòng)判別樣品及自動(dòng)分析。提供擴(kuò)展接口，進(jìn)一步作其他元素分析，從鈣到鈾元素。

硬件

美國進(jìn)口Si-PIN探測器，高速脈沖高度分析系統(tǒng)

美國SPELLMAN高壓發(fā)生器

美國進(jìn)口前置放大器，與美國進(jìn)口探測器兼容性好

美國進(jìn)口主放大器，與美國進(jìn)口探測器兼容性好

美國進(jìn)口AD轉(zhuǎn)換模塊，與美國進(jìn)口探測器兼容性好

尺寸＆重量

550（W）×450(D)×450(H)mm

60Kg（主機(jī)部分）

電源與環(huán)境要求

電源：220V±10％ 50Hz

環(huán)境溫度：10℃-28℃

環(huán)境濕度: ≤70 ％RH(25℃室溫)

產(chǎn)品優(yōu)勢

PRODUCT ADVANTAGE

無損檢測

在無標(biāo)準(zhǔn)樣品時(shí)亦可準(zhǔn)確分析

測量時(shí)間比化學(xué)方法短，不需要輔助材料

計(jì)算機(jī)進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，分析快速準(zhǔn)確

高分辨率圖形即時(shí)顯示，由不同色塊加以判斷區(qū)分

硅半導(dǎo)體探測器

元素含量分析范圍為2 PPm到99.99%

采用BG內(nèi)標(biāo)校正，提高非定性式樣測量精度

全自動(dòng)定量分析報(bào)告簡捷準(zhǔn)確

自適應(yīng)初試化校正

光譜的自動(dòng)獲取和顯示

具有自動(dòng)檢測儀器工作狀態(tài)的功能

自動(dòng)判別樣品及自動(dòng)分析

技術(shù)參數(shù)

TECHNICAL PARAMETERS

儀器型號	EDX-9000
檢出下限	1ppm
分析元素范圍	Na(11)—U(92)任意元素
真空系統(tǒng)	真空
樣品類型	固體/粉末/液體
X射線管	Mo/W/Ag/Rh等靶材可選
管電壓	5—50kV
管電流	1—1000uA
內(nèi)腔尺寸	150* 150* 100mm
準(zhǔn)直器	2、4、4、8mm
探測器	SDD探測器
ADC	2048道
濾光片	6種濾光片自動(dòng)選擇并自動(dòng)轉(zhuǎn)換
樣品觀察	130萬彩色CCD攝像機(jī)
分析軟件及方法	軟件產(chǎn)品，升級，理論alpha 系數(shù)法、基本參數(shù)法、經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法
工作環(huán)境	溫度10-35℃，濕度30-70%RH
外形尺寸及重量	600(W)×500(D)×500(H)mm 60kg
外形尺寸	600500500mm（WDH）
重量	60kg
外部供電要求	AC220±10%
供電頻率	50/60Hz
測試樣品時(shí)間	0－300秒可調(diào)